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- 公司名稱 上海磊微科學(xué)儀器有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 上海市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2024/5/22 16:01:02
- 訪問次數(shù) 49
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TIMA-X綜合礦物分析系統(tǒng) TESCAN綜合礦物分析系統(tǒng)(TIMA-X)是一款 以掃描電子顯微鏡為基礎(chǔ)的全新自動化礦物分析設(shè) 備。
TESCAN綜合礦物分析系統(tǒng)(TIMA-X)是一款 以掃描電子顯微鏡為基礎(chǔ)的全新自動化礦物分析設(shè) 備。
它通過掃描電鏡平臺結(jié)合BSE圖像和EDS分 析來識別礦物,并可以得到礦物質(zhì)濃度,元素分布 和礦物質(zhì)地特征,如晶粒尺寸、締合、解離/鎖定等 參數(shù)信息以及圖像信息,從而實現(xiàn)巖石、礦石、濃 縮物、尾礦、漫出殘渣或冶煉產(chǎn)品等樣品的快速定 宣分析以及參數(shù)測定等。
TIMA-X綜合礦物分析系統(tǒng)還可以自動捜索重 礦物,包含鉗族,金,銀,稀土等。
全自動高集成系統(tǒng)
TIMA-X最多可使用四個能譜儀,并標(biāo)配全功 能能譜軟件以及TIMA礦物分析軟件,從而提高性 能和可靠性。此外,TIMA-X能譜探測器采用 SI3N4窗口設(shè)計,增加了 X射線透過率,可以在較 高計數(shù)率情況下獲得更優(yōu)的能量分辨率。
TIMA-X配套的專用礦物分析軟件具有許多的功能,包括更的礦物鑒定技術(shù),以及在低 強度下的譜峰疊加技術(shù)、離線定最分析技術(shù)等。
? 的Autoloader技術(shù)實現(xiàn)大批量樣品的 自動、穩(wěn)定和持續(xù)測試
? 可以配置CL、WDX以及Raman等探測 器,進行同時成像
? 集成多個模塊,包括礦物相分析、解離度分 析以及髙相搜索模塊等
? 的同相譜圖畳加技術(shù),減少數(shù)據(jù)占用空 間,極大增加信噪比
? 具有強大的數(shù)據(jù)庫,包含超過4700余種礦 物信息
1.高嶺土樣品,可以明顯分辨石英(藍色)和云母碎片(黃色)O
2.蝕變花崗巖樣品,清晰可見各種礦物分布特點。
3.模態(tài)分析,可詳細評估礦物分布及其比例。
4.顆粒度分析:按礦物大小分類的銅礦石顆粒。
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