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ST400型三維表面形貌儀

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ST400型三維表面形貌儀是一款多功能的三維形貌儀,采用的白光共聚焦技術(shù),可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,具有測量精度高,速度快,重復(fù)性好的優(yōu)點,該儀器可用于測量大尺寸樣品,并具有多種選項,包含360°旋轉(zhuǎn)工作臺,原子力顯微鏡模塊,光學(xué)顯微鏡,特征區(qū)域定位等多種功能模塊

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    ST400型三維表面形貌儀是一款多功能的三維形貌儀,采用的白光共聚焦技術(shù),可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,具有測量精度高,速度快,重復(fù)性好的優(yōu)點,該儀器可用于測量大尺寸樣品,并具有多種選項,包含360°旋轉(zhuǎn)工作臺,原子力顯微鏡模塊,光學(xué)顯微鏡,特征區(qū)域定位等多種功能模塊。

產(chǎn)品特性

  1. 采用白光共聚焦色差技術(shù),可獲得納米級的分辨率

  2. 測量具有非破壞性,測量速度快,精確度高

  3. 測量范圍廣,可測透明、金屬材料,半透明、高漫反射,低反射率、拋光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…);

  4. 尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面

  5. 不受樣品反射率的影響

  6. 不受環(huán)境光的影響

  7. 測量簡單,樣品無需特殊處理

  8. Z方向,測量范圍大:為27mm

主要技術(shù)參數(shù)

  1. 掃描范圍:150mm×150mm(可選600mm*600mm)

  2. 掃描步長:0.1μm

  3. 掃描速度:20mm/s

  4. Z方向測量范圍:27mm

  5. 方向測量分辨率:2nm

產(chǎn)品應(yīng)用

    MEMS、半導(dǎo)體材料、太陽能電池、醫(yī)療工程、制藥、生物材料,光學(xué)元件、陶瓷和材料的研發(fā)。



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