X-Strata920高效的X射線鍍層測厚儀
-Strata920是一款簡潔、堅固和可靠的質量控制XRF臺式熒光系統(tǒng)，用于簡便、快速的鍍層厚度測試和材料分析。
The X-Strata920可應用于常規(guī)金屬處理、電子元器件制造和金屬測定（如珠寶鑒定）等行業(yè)，完成單層或多層厚度測量。
主要特點包括：;
§ 成本低、快速、非破壞的EDXRF分析
§ 可完成至多4層鍍層（另加底材）和15個元素的鍍層厚度測試，自動修正X射線重疊譜線
§ 的多元素辨識，廣泛覆蓋元素表上從鈦（原子序數(shù)22號）到鈾（92號）各元素
測厚行業(yè)20年知識和經(jīng)驗的積淀
使用廣受推崇的能量色散X射線熒光（EDXRF）技術, X-Strata920可實現(xiàn)如下測試要求：
§ 符合ISO3497標準測試方法：金屬鍍層——X射線光譜法測量鍍層厚度
§ 符合ASTM B568標準測試方法：X射線光譜儀測量鍍層厚度，包括金屬和部分非金屬鍍層
§ 至多同時分析25種元素
| 日立儀器基于WindowsTM 的軟件SmartLinka，直觀、簡單，使用戶的生產(chǎn)效率化： 界面主要部分： § A) 待測樣品放大的圖像 § B) 清晰的測試結果顯示：可選擇標準或大字符 § C) X射線波譜，顯示樣品中主要元素 § D) “Stop/Go” 一鍵測量
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SmartLink® 基本參數(shù)法（FP）軟件
| 日立儀器基于WindowsTM的SmartLinka FP軟件： § 基本參數(shù)法可不需或只需很少數(shù)量的標樣。 § 儀器預裝了超過800種應用參數(shù)/方法，便于建立測試程序和日常操作。 § 直觀的步驟，可在幾分鐘內(nèi)建立新方法。 § 如有結構匹配的標樣，基于FP方法的校正程序可提供可信的定量分析結果。 § 如沒有結構匹配的標樣，可建立一個純理論的校正程序。 § 如有全套標樣，“經(jīng)驗式的”感興趣區(qū)域（ROI）校正方法可以實現(xiàn)的準確度。
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SmartLink®基本參數(shù)法分析
| 基本參數(shù)法可以快速、準確第測量鍍層厚度和材料成分分析： § 基于FP的校準覆蓋廣泛的厚度范圍包括復雜的多層應用。 § 基于FP的校準液覆蓋廣泛的材料。這對包含大量非常規(guī)任務的工作特別有用。 § 當有限標樣時，基于FP的校準程序提供了可靠的定量分析的手段。 § 當沒有標樣時，可建立純理論的校準程序進行半定量分析。
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數(shù)據(jù)穩(wěn)定性：波譜校準標樣和自動熱補償
| § 只需對日立儀器提供的波譜校準（Spec-Cal）標樣進行簡單、快速的測量，即可檢測儀器的性能，即靈敏度和檢測器的分辨率。測量結束時，儀器自動完成校準，保證儀器長期穩(wěn)定性。 § 自動熱補償功能持續(xù)測量儀器的溫度并做修正，保證短期和長期的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。
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定性分析 – 波譜掃描（計數(shù)）
報告生成軟件（簡潔版）
| § 可根據(jù)客戶的具體要求打印定制報告，如：用戶可使用預置模板或自制報告模板，并一鍵實現(xiàn)報告打印。 |
