FM-Nanoview Op-AFM

系統(tǒng)簡介：

◆ 光學(xué)金相顯微鏡和原子力顯微鏡一體化設(shè)計，功能強(qiáng)大；

◆ 同時具備光學(xué)顯微鏡和原子力顯微鏡成像功能，兩者可同時工作，互不影響；

◆ 同時具備光學(xué)二維測量和原子力顯微鏡三維測量功能；

◆ 激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體，結(jié)構(gòu)非常穩(wěn)定，抗干擾性強(qiáng)；
◆ 精密探針定位裝置，激光光斑對準(zhǔn)調(diào)節(jié)非常簡便；
◆ 單軸驅(qū)動樣品自動垂直接近探針，使針尖垂直于樣品掃描；
◆ 馬達(dá)控制加壓電陶瓷自動探測的智能進(jìn)針方式，保護(hù)探針及樣品；

◆ 超高倍光學(xué)定位系統(tǒng)，實現(xiàn)探針和樣品掃描區(qū)域精確定位；
◆ 集成掃描器非線性校正用戶編輯器，納米表征和測量精度優(yōu)于98%。

◆ 技術(shù)參數(shù) Technical Parameters