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- 公司名稱 蘇州市宇宏光電儀器有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 蘇州市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2024/6/28 12:51:20
- 訪問次數(shù) 50
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可同時測量SCI和SCE通過特殊的數(shù)字化光澤控制方式同時測量SCI和SCE,僅需4秒即可連續(xù)測量
可同時測量SCI和SCE
通過特殊的數(shù)字化光澤控制方式同時測量SCI和SCE,僅需4秒即可連續(xù)測量。與傳統(tǒng)機(jī)型不同的是,無需在SCI和SCE模式之間進(jìn)行頻繁的機(jī)械切換,這樣就提高了工作效率。由于在切換模式時測量區(qū)域不會變化,因此可提供穩(wěn)定的測量數(shù)據(jù)。
也可輕松獲取任意光源下的數(shù)據(jù)(UV調(diào)整)。任意光源下僅需測量已知分光反射率數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)熒光樣本,即可完成UV校正。UV校正后可獲取相應(yīng)光源下的樣本數(shù)據(jù)。由于無需對UV截止濾光片移動引起的嘗試錯誤進(jìn)行UV調(diào)整,大大縮短了測量時間。
符合JIS、ISO、DIN、CIE、ASTM的di:8°、de:8°(漫射照明、8° 接收)方式
符合ISO、DIN、CIE、ASTM的di:0°、de:0°(漫射照明、0° 接收)方式
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