AvaSpec-ULS2048L/3648TEC 熱電制冷型光纖光譜儀
產(chǎn)品描述：
AvaSpec-ULS2048L/3648TEC 熱電制冷型光纖光譜儀是全新設(shè)計(jì)的ULS-TEC平臺(tái)，其尺寸比上一代TEC平臺(tái)縮小了35%以上，采用新的機(jī)箱，帶溫度控制器和2個(gè)風(fēng)扇，AvaSpec-ULS2048L/3648TEC 熱電制冷型光纖光譜儀主要運(yùn)用在分子動(dòng)態(tài)學(xué)分析、拉曼分析、熒光測(cè)量、化學(xué)發(fā)光測(cè)量、微弱信號(hào)探測(cè)、PL、EL測(cè)量。
產(chǎn)品介紹：
AvaSpec-ULS2048L/3648TEC是SensLine系列高靈敏度光譜儀中的主力產(chǎn)品，采用3階熱電制冷型CCD探測(cè)器，相比非制冷型CCD探測(cè)器，暗噪聲改善6倍以上，動(dòng)態(tài)范圍擴(kuò)大10倍。全新設(shè)計(jì)的ULS-TEC平臺(tái)，其尺寸比上一代TEC平臺(tái)縮小了35%以上，采用新的機(jī)箱，帶溫度控制器和2個(gè)風(fēng)扇。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：
高穩(wěn)定性、高靈敏度、高采樣速度、低噪聲、大動(dòng)態(tài)范圍。
產(chǎn)品特征：
3階TE制冷CCD陣列探測(cè)器（恒定5°C）、制冷溫度為低于環(huán)境溫度35°C、積分時(shí)間可達(dá)60秒、帶微處理器的電路板。
應(yīng)用領(lǐng)域：
拉曼分析、熒光測(cè)量、化學(xué)發(fā)光測(cè)量、PL、EL測(cè)量、微弱信號(hào)探測(cè)、分子動(dòng)態(tài)學(xué)分析。
注意：
取決于光柵的起始波長(zhǎng)；波長(zhǎng)越長(zhǎng)，色散越大，分辨率越高。
主要參數(shù):
光譜儀型號(hào) | AvaSpec-ULS2048LTEC | AvaSpec-ULS3648TEC |
光學(xué)平臺(tái) | ULS超低雜散光、Czerny-Turner對(duì)稱式光學(xué)平臺(tái)， 75 mm焦距 |
波長(zhǎng)范圍 | 200 – 1100 nm |
雜散光 | 0.04 - 0.1%，與光柵類型有關(guān) |
探測(cè)器類型 | 2048像素CCD陣列 | 3648像素CCD陣列 |
靈敏度（單位：計(jì)數(shù)/微瓦 每毫秒積分
時(shí)間） | 470,000 | 160,000 |
探測(cè)器制冷 | 3階TE制冷，恒定5°C （制冷溫度為低于環(huán)境溫度35°C） |
穩(wěn)定時(shí)間 | 4 minutes |
暗噪聲改善倍數(shù) （積分時(shí)間>5秒） | > 6倍 |
PRNU*改善倍數(shù) （積分時(shí)間>5秒） | > 8倍 |
信噪比 | 300:1 | 350:1 |
AD轉(zhuǎn)換器 | 16位, 2 MHz | 16位, 1 MHz |
積分時(shí)間 | 1.1 ms – 600 sec | 10 μs – 600 sec |
采樣速度（帶板卡平均功能） | 1.1 ms /每次采樣 | 3.7 ms /每次采樣 |
數(shù)據(jù)傳輸速度 | 1.8 ms /每次采樣(USB2)
430 ms /每次采樣(RS-232) | 3.7 ms /每次采樣(USB2)
750 ms /每次采樣(RS-232) |
數(shù)據(jù)接口 | USB 2.0 高速接口, 480 Mbps
RS-232, 115.200 bps |
I/O接口 | HD-26接口，2 針模擬輸入, 2 針模擬輸出, 3 針數(shù)字輸入, 12 針數(shù)字輸出, 觸發(fā), 同步 |
3階制冷電功耗 | 5 VDC, 3.0 A |
供電形式 | 100-240 VAC, 50 W |
外型尺寸/重量 | 245 x 175 x 140 mm, 3.6 Kg |
光柵選擇表：
應(yīng)用范圍 | 可用波長(zhǎng)范圍(nm) | 每塊光柵覆蓋的光譜范圍(nm) | 光柵線對(duì)數(shù)/mm | 閃耀波長(zhǎng)(nm) | 光柵型號(hào) |
UV/VIS/NIR | 200-1100** | 900** | 300 | 300 | UA |
UV/VIS/NIR | 200-1100** | 900** | 300 | 300/1000 | UNA-DB |
UV/VIS | 200-850 | 520 | 600 | 300 | UB |
UV | 200-750 | 250-220* | 1200 | 250 | UC |
UV | 200-650 | 165-145* | 1800 | UV | UD |
UV | 200-580 | 115-70* | 2400 | UV | UE |
UV | 200-400 | 70-45* | 3600 | UV | UF |
UV/VIS | 250-850 | 520 | 600 | 400 | BB |
VIS/NIR | 300-1100** | 800** | 300 | 500 | VA |
VIS | 360-1000 | 500 | 600 | 500 | VB |
VIS | 300-800 | 250-200* | 1200 | 500 | VC |
VIS | 350-750 | 145-90* | 1800 | 500 | VD |
VIS | 350-640 | 75-50* | 2400 | VIS | VE |
NIR | 500-1050 | 500 | 600 | 750 | NB |
NIR | 500-1050 | 220-150* | 1200 | 750 | NC |
NIR | 600-1160 | 350-300* | 830 | 800 | SI |
NIR | 600-1100** | 500** | 300 | 1000 | IA |
NIR | 600-1100 | 500 | 600 | 1000 | IB |
其他信息：
光譜學(xué)是測(cè)量紫外、可見(jiàn)、近紅外和紅外波段光強(qiáng)度的一種技術(shù)。光譜測(cè)量被廣泛應(yīng)用于多種領(lǐng)域，如顏色測(cè)量、化學(xué)成份的濃度檢測(cè)或電磁輻射分析等。
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