程序簡便，操作可靠
您是否正在尋找一款能夠可靠地進(jìn)行檢測分析、獲得高質(zhì)量檢測結(jié)果且簡便易用的顯微鏡？智能Axio Imager偏光顯微鏡堪稱是您的理想選擇。
該系列顯微鏡有編碼型、部分電動(dòng)型或全電動(dòng)型可供選擇，滿足您的個(gè)性化需求。
優(yōu)勢(shì)
薄層太陽能電池表面，Axio Imager，透射光偏光加λ片
自動(dòng)識(shí)別組件，讓您事半功倍
借助自動(dòng)組件識(shí)別（ACR）功能，使您能夠始終方便地使用顯微鏡設(shè)置。所有電動(dòng)主機(jī)架能夠自動(dòng)識(shí)別物鏡。此外，ACR還能在全電動(dòng)主機(jī)架中識(shí)別反射光模塊。Axio Imager能自動(dòng)對(duì)組件的變換進(jìn)行記錄。
無振動(dòng)設(shè)計(jì)確保長時(shí)間成像的可靠性
借助Axio Imager出色的穩(wěn)定性得以實(shí)現(xiàn)可隨時(shí)間變化的測量和高放大倍率觀察，物鏡轉(zhuǎn)盤、z軸升降臺(tái)和載物臺(tái)被設(shè)計(jì)為一個(gè)緊湊式無振動(dòng)單元，獨(dú)立于主機(jī)架的其余部分。這種“穩(wěn)定單元”結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)為獲得高質(zhì)量的檢測結(jié)果創(chuàng)造了理想的測量條件。
功能豐富，操作舒適
· 簡化復(fù)雜的程序。通過主機(jī)架或外置工作站上的觸摸屏來控制所有電動(dòng)化組件。
· 保存?zhèn)€性化設(shè)置，一鍵即可輕松還原設(shè)置。聚焦操作方便直觀 – 符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)的觸控式按鈕。
· 或者，通過任意擺放的控制面板（可與主機(jī)架分離）來操作偏光顯微鏡系統(tǒng)。觀察方式和光路管理器能夠自動(dòng)選擇理想設(shè)置，以生成可重復(fù)且可靠的觀測結(jié)果
方法
錐鏡檢查：使用偏光顯微鏡可以實(shí)現(xiàn)快速可靠的晶體結(jié)構(gòu)分析
使用偏光顯微鏡能夠同時(shí)采集無畸變的和錐光的圖像信息。借助特別設(shè)計(jì)的Pol以及額外的中間像平面，可以同時(shí)看到物體、十字線和光圈。通過調(diào)節(jié)型可變光闌能夠?qū)㈠F光觀測范圍縮小至10μm 的晶體粒度。預(yù)先居中的Bertrand光學(xué)可以輕松打開和關(guān)閉。這一特性讓您即使在捕獲圖像或使用視頻設(shè)備時(shí)，也可以在各種之間快速切換。
一致的測量性能
· 借助可360°刻度和0.1°游標(biāo)的旋轉(zhuǎn)、載物臺(tái)可以輕松實(shí)現(xiàn)測量（例如：用于測量礦物的解理角）。
· 光程差測定或應(yīng)變測量
具有固定光程差的補(bǔ)償器
· 全波片λ
· 四分之一波片λ/4
· 全波片λ，可旋轉(zhuǎn)+/- 8°
大量光譜補(bǔ)償器可選，涵蓋從0至30λ的測量范圍。
具有可變光程差的補(bǔ)償器
· 光楔補(bǔ)償器0-4λ
· 測量補(bǔ)償器
Berek傾斜補(bǔ)償器0-5λ
Berek傾斜補(bǔ)償器0-30λ
Axio Imager可應(yīng)用于更多方法，例如：
· 熱顯微分析
· 使用蔡司ZEN Core軟件進(jìn)行數(shù)字分析（例如，使用晶粒度分析或顆粒度分析）
應(yīng)用
Coolidge隕石中的棒橄欖球粒
樣本：Jutta Zipfel博士，德國法蘭克福森肯伯格研究博物館隕石研究部
