Nicomp動態(tài)光散射（DLS）系統(tǒng)可檢測0.3 nm到10μm的粒度分布及zeta電位。Nicomp 系統(tǒng)搭載著Nicomp 多峰算法，解決了復(fù)雜體系樣本顆粒分布檢測的難題。它可以將一個次峰從主峰的尾巴中分離出來，幫助研究人員確定樣本主要成分的顆粒度大小。當(dāng)嘗試開發(fā)新材料時，這是一個至關(guān)重要的參數(shù)，這將很大程度上影響產(chǎn)品的最終性能。 

Nicomp 3000 系列納米激光粒度儀采用動態(tài)光散射原理檢測分析樣品的粒度分布?；诙嗥绽针娪竟馍⑸湓恚―oppler Electrophoretic Light Scattering，DELS）檢測ZETA電位。其主要用于檢測額納米級別及亞微米級別的體系，粒徑檢測范圍0.3nm-10μm，ZETA電位檢測范圍為+/-500mV。動態(tài)光散射方法（DLS）從傳統(tǒng)的光散射理論中分離，關(guān)注光強(qiáng)隨著時間的波動行為。我們通過光強(qiáng)值的波動得到自相關(guān)函數(shù)，從而獲得衰減時間常量 T，根據(jù)公式換算獲得粒子的擴(kuò)散速度 D（Diffusion，擴(kuò)散系數(shù)）

Zeta電位的檢測時，在樣品插入電極，施加電壓，根據(jù)樣品中電荷的遷移方向確認(rèn)電荷正負(fù)性，根據(jù)遷移速率確認(rèn)Zeta電位值。Nicomp Z3000設(shè)備集成兩種Zeta電位算法：頻譜分析法和相位分析法。相位分析法在很大程度上解決了頻譜分析儀在高鹽體系，有機(jī)相體系檢測中的局限性，PSS也是將相位分析法應(yīng)用于Zeta電位檢測。

下圖為同一復(fù)雜體系樣品分別在高斯算法和Nicomp算法所呈現(xiàn)的結(jié)果。

Nicomp可搭配ZETA電位模塊對樣品的Zeta電位進(jìn)行測量。電勢是粒子表面電荷，這也是分散體系穩(wěn)定性的重點(diǎn)評估依據(jù)。ZETA電位接近零的分散體通常不穩(wěn)定，容易聚集或者相分離。ZETA電位的值越高，表明穩(wěn)定性越好。Nicomp使用基于相位分析光散射（PALS）技術(shù)來測量粒子運(yùn)動，非常的靈敏。測量可以在低電場強(qiáng)度下進(jìn)行，這對敏感型樣品，如蛋白質(zhì)或其他生物分子來說要溫和得多。ZETA電位見的用途是間接反映體系穩(wěn)定性，判斷基團(tuán)修飾結(jié)果。ZETA電位是非常重要的指標(biāo)，可分析哪種配方隨著時間的推移會更穩(wěn)定。

Nicomp 3000 還可搭配多角度檢測模塊，可更全面、更靈敏捕捉到樣品體系真實差異。下圖為兩種不同制備方法制備BSA蛋白質(zhì)粒徑分布測試結(jié)果；圖5選用90度檢測角進(jìn)行測試a,b分別為ColdPrep.和HotPrep.制備所得Nicomp其粒徑分布測試站果，如圖所示，對比1a和1b可知，兩種制備方法制者的蛋白質(zhì)在8nm左右均有峰，此值為蛋白質(zhì)的常規(guī)粒徑；除此之外，在50nm處1a和1b均有峰，但是峰型不是很明顯；此處推測是置白聚集物質(zhì)；

如圖，單聚體蛋白的粒徑大小為1.7nm

大功率激光器模塊

配量不同功率的激光發(fā)生器，充分適配不同類型的復(fù)雜樣本檢測，采用大功率激光器，測試靈敏度和耐用性更佳。

雙控溫模塊

0℃-90℃樣品溫度控制，同時控制光源濕度，增加激光光源使用壽命，增加連續(xù)測試時間。

多角度檢測模塊

Nicomp3000系列可以配置范圍在10°-175°,步長0.7"的多角度模塊，通過調(diào)節(jié)角度進(jìn)行檢測，可提高對高龍粒子多分散體系粒徑分析的精調(diào)度。

Date：Mar. 19,2023

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