數(shù)顯電子試驗(yàn)機(jī)采用的DSP+MCU全數(shù)字閉環(huán)控制系統(tǒng)進(jìn)行控制及測(cè)量，采用計(jì)算機(jī)進(jìn)行試驗(yàn)過(guò)程及試驗(yàn)曲線的動(dòng)態(tài)顯示，并進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，試驗(yàn)結(jié)束后可通過(guò)圖形化處理模塊對(duì)測(cè)試進(jìn)行數(shù)據(jù)再分析，實(shí)現(xiàn)二次編輯擁有Excel數(shù)據(jù)導(dǎo)出打印出測(cè)試報(bào)告。

數(shù)顯電子試驗(yàn)機(jī)適用對(duì)各種金屬、非金屬材料進(jìn)行拉伸、壓縮、彎曲、剪切、撕裂、剝離、穿刺等力學(xué)性能的測(cè)試，還可以進(jìn)行等速加載、等速變形、等速位移的自動(dòng)控制試驗(yàn)，并有低周載荷循環(huán)、變形循環(huán)、位移循環(huán)的功能。求取伸長(zhǎng)率、拉伸強(qiáng)度、彎曲模量、彈性模量、屈服強(qiáng)度、凈能量、折返能量、總能量等指標(biāo)。

數(shù)顯電子試驗(yàn)機(jī)采用伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng),伺服電機(jī)，高剛性 高精度 高傳動(dòng)效率 行星減速系統(tǒng)帶動(dòng)滾珠絲桿, 實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)加載過(guò)程。

數(shù)顯電子試驗(yàn)機(jī)采用的DSP+MCU全數(shù)字閉環(huán)控制系統(tǒng)進(jìn)行控制及測(cè)量，采用計(jì)算機(jī)進(jìn)行試驗(yàn)過(guò)程及試驗(yàn)曲線的動(dòng)態(tài)顯示，并進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，試驗(yàn)結(jié)束后可通過(guò)圖形化處理模塊對(duì)測(cè)試進(jìn)行數(shù)據(jù)再分析，實(shí)現(xiàn)二次編輯擁有Excel數(shù)據(jù)導(dǎo)出打印出測(cè)試報(bào)告。