| 參考價 | 面議 |
PCT老化試驗箱（又稱PCT高壓加速老化試驗機）可模擬半導體、PCB、IC、LCD等試品PCT測試所需嚴苛溫度、濕度及高氣壓綜合環(huán)境以驗證產(chǎn)品封裝耐壓性氣密性。PCT老化試驗箱是提高環(huán)境應力（如：溫度）與工作應力（施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等），加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間，主要是模擬氣候環(huán)境測試產(chǎn)品在不同溫度、濕度及壓力下密封性、氣密性的試驗設備。其廣泛應用于電子器件、汽車零配件、塑膠、線路板、IC、LCD、LED、磁鐵等行業(yè)。
APCT -S系列
- 突出特點：
PCT高壓加速老化試驗箱最主要是測試半導體封裝之抗?jié)駳饽芰?，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。
| 型號 | APCT -S- | ||||||
| 25A | 30A | 40A | 50A | 25B | 30B | ||
| 控制器 | 微電腦飽和蒸汽溫度+時間+壓力顯示獨立控制器 控制精度：溫度：0.1℃，壓力：0.1kg/cm2（指針式） | ||||||
| 性能 | 溫度范圍 | 100℃～132℃ | 100℃～147℃ | ||||
| 濕度范圍 | 99%RH飽和蒸汽 | ||||||
| 溫濕波動度 | 溫度：±0.5℃，濕度：99%RH | ||||||
| 壓力范圍 | 表壓力+0～2.0kg/cm2 | 表壓力+0～3.5kg/cm2 | |||||
| 加壓時間 | 大約45分鐘 | 大約55分鐘 | |||||
| 循環(huán)方式 | 水蒸氣自然對流循環(huán) | ||||||
| 標稱內(nèi)容積 | 17L | 31L | 69L | 117L | 17L | 31L | |
| 內(nèi)箱尺寸 （直徑x深）cm | Φ25xD35 | Φ30xD45 | Φ40xD55 | Φ50xD60 | Φ25xD35 | Φ30xD45 | |
| 外箱尺寸 （寬x深x高）cm | 56 | 66 | 76 | 86 | 56 | 66 | |
| 105 | 125 | 135 | 145 | 105 | 125 | ||
| 65 | 105 | 115 | 135 | 65 | 105 | ||
| 材質(zhì) | 內(nèi)箱 | SUS316#不銹鋼 | |||||
| 外箱 | 高級鋼板烤漆或不銹鋼 | ||||||
| 保溫 | 玻璃棉 | ||||||
| 密封 | 進口硅膠密封條 | ||||||
| 試樣架 | 試樣架隔板（標配2套），可定制專用試樣架 | ||||||
| 安全保護 | 試驗時全程檢測超溫超壓保護； 階段高溫保護，階段高壓保護，箱門壓力限制，水箱缺水報警斷電，溫度加熱器保護，濕度加濕器保護； 第二階段高溫保護，第二階段高壓保護；第三階段緊急泄壓保護，手動泄壓保護，自動泄壓等。 | ||||||
注：以上技術參數(shù)為室溫+20℃或循環(huán)水溫+25℃、空載（無試樣）時下所測得。
MS IEC 60068-2-66-2008 環(huán)境試驗 第2-66部分-試驗方法 試驗Cx-穩(wěn)態(tài)濕熱(不飽和加壓蒸汽)
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