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- 公司名稱 北京宏昌信科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 所在地 北京市
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2015/11/26 15:00:01
- 訪問(wèn)次數(shù) 679
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電鏡球差校正技術(shù)的實(shí)用化,使得同時(shí)進(jìn)行超高分辨率觀察和超高靈敏度分析成為可能。日立*公司與CEOS公司共同的努力,成功地開發(fā)出了新一代掃描透射電子顯微鏡(STEM)。
HD-2700帶有球差校正的場(chǎng)發(fā)射掃描透射電子顯微鏡
電鏡球差校正技術(shù)的實(shí)用化,使得同時(shí)進(jìn)行超高分辨率觀察和超高靈敏度分析成為可能。日立*公司與CEOS公司共同的努力,成功地開發(fā)出了新一代掃描透射電子顯微鏡(STEM)。
HD-2700通過(guò)球差校正,用大會(huì)聚角獲得了亞納米級(jí)電子束,在分辨率和分析性能獲得重大的進(jìn)步。
HD-2700共有三種型號(hào),分別是配有球差校正的高分辨型和標(biāo)準(zhǔn)型,以及無(wú)球差校正型,可根據(jù)應(yīng)用需求選擇。
特點(diǎn):
1. 高分辨觀察
*利用金顆粒保證0.144nm分辨率DFSTEM像(標(biāo)準(zhǔn)型)
2.增加了探針電流(約為非校正的STEM探針電流的10倍),可以進(jìn)行高速、高靈敏度能譜分析
*可以在更短的時(shí)間內(nèi)獲得元素的面分布圖
*檢測(cè)微量元素成為可能
3.簡(jiǎn)化的操作
*提供了的GUI自動(dòng)調(diào)節(jié)球差校正器
4.整體的解決方案
*樣品桿與日立FIB兼容,提供了納米尺度的整體解決方案:從制樣到數(shù)據(jù)獲得和zui終分析
5.多種評(píng)價(jià)/分析功能可選
*同時(shí)獲得和顯示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像
*可以配備ELV-2000型實(shí)時(shí)元素Mapping系統(tǒng)(DF-STEM像可以同時(shí)獲得)
*實(shí)時(shí)衍射(DF-STEM像和衍射像可以同時(shí)觀察)
*低劑量功能可以減少由電子束造成的樣品破壞/污染
*可以配備超微柱頭樣品桿進(jìn)行三維分析(360度旋轉(zhuǎn))
*精確的放大倍率校準(zhǔn)功能
技術(shù)指標(biāo):
項(xiàng)目 描述
分辨率
(晶格分辨率) 1、配有球差校正的標(biāo)準(zhǔn)型 0.144nm,電子槍:冷場(chǎng)或熱場(chǎng)
2、配有球差校正的高分辨型 0.136nm,電子槍:冷場(chǎng)
3、無(wú)球差校正型 0.204nm,電子槍:熱場(chǎng) 加速電壓 200KV 放大倍率 100x -10,000,000 圖像模式 圖像模式 相襯度像(TE像)
原子序數(shù)襯度像(ZC像)
電子衍射花樣(可選)
特征X射線像(可選 :EDX)
EELS像(可選 :ELV-2000) 電子光學(xué) 電子槍 場(chǎng)發(fā)射電子源,內(nèi)置陽(yáng)極加熱器
透鏡系統(tǒng) 兩級(jí)聚光鏡、物鏡、投影鏡
球差校正器 六極/傳輸 雙重(標(biāo)準(zhǔn)型和高分辨型)
掃描線圈 兩級(jí)電磁線圈
電位移 0.5μm 樣品桿 類型 側(cè)插式
移動(dòng)范圍 X,Y=±1mm,T=±30°(單傾樣品桿) 操作系統(tǒng) Windows XP
本公司現(xiàn)貨產(chǎn)品
美國(guó)華瑞PGM-2400 四合一復(fù)合式氣體檢測(cè)儀 HT10S煙氣黑度照相測(cè)定儀
PPMhtv甲醛檢測(cè)儀
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