產(chǎn)品名稱：高溫老化箱

產(chǎn)品用途：適用但不限于工業(yè)產(chǎn)品、零部件、原材料等所有需要溫度的環(huán)境模擬可靠性試驗，廣泛應(yīng)用于半導體、LCD、光電元件、新能源（電池）等產(chǎn)品干燥固化、高溫老化等試驗。

產(chǎn)品參數(shù)：

※可根據(jù)客戶需求非標定制任意尺寸大小產(chǎn)品和其他溫度范圍。

應(yīng)用案例

滿足試驗標準（方法）：

GB/T 2423.2-2008(IEC68-2-2)試驗Bb:高溫試驗方法。GJB360.8-2009(MIL-STD.202F)高溫壽命試驗。GJBl50.3-2009(MIL-STD-810D)高溫試驗方法。