UBTS系統(tǒng)被廣泛應(yīng)用于器件研發(fā)、認證和批量生產(chǎn)中，其靈活、完善的測試報告軟件可以為研發(fā)工程師和可靠性工程師提供豐富的信息。
適用范圍：
♦ 大規(guī)模數(shù)字集成電路：MCU、DSP、FPGA、CPU、邏輯器件、接口器件和驅(qū)動器件等
♦ 存儲器集成電路：SRAM、DRAM、SDRAM、DDR2、EEPROM，Nａnd Flash（PARALLEL, SERIAL），Nor Flash （PARALLEL SERIAL）等
♦ 混合集成電路：ADC，DAC，DC/DC，Smart power supplier，OP-AMP，Voltage Regulator，Analog Switch，Analog Multiplexer等;
♦ 特殊器件：ASIC、SOC、Medical、Sensor和客戶定制等器件。
產(chǎn)品特點：
♦ 基于無二功能的PTDM模塊，將圖形產(chǎn)生和測試驅(qū)動合二為一；
♦ 50MHz的系統(tǒng)主時鐘，可以實現(xiàn)高頻率的功能測試；最小可編程脈沖寬度10ns；
♦ 實現(xiàn)了老化情況下的器件功能測試；
♦ 一臺系統(tǒng)可以實現(xiàn)數(shù)字集成電路、存儲器電路和混合集成電路的老化和功能測試；
♦ 容易實現(xiàn)批器件的可靠性評估及性能參數(shù)分布分析，如批存儲器10萬次的有效擦寫可靠性評估等；
♦ 每個BIB對應(yīng)一個PTDM模塊，每個PTDM模塊都有自己的微處理器單元，使不同的BIB可以單獨運行不同類型的老煉程序（利用Firmware）；
♦ 12到48插槽的老煉箱可以選擇，還能為客戶提供定制的老煉箱柜；
♦ 每個PTDM模塊，可以配置多達6個程控電源（選件）；可為每個老化板提供高達104A的老化電流，提高了每個老化板的老化器件的數(shù)量。老化電壓可以并聯(lián)使用；
♦ 另外每個PTDM模塊還配置了4路可編程參考電源（Vref）；
♦ 配合EDA的HD/H型BIB，有多達480個金手指和44個低插入力的電源通道，大大提升了提供給每個老化板的綜合電流能力。每個老化板的信號連續(xù)驅(qū)動電流高達15A；
♦ 1G超大矢量存儲器；
♦ 每個PTDM模塊均有時鐘發(fā)生器、地址發(fā)生器（包括1個16位加減Refresh地址計數(shù)器）、數(shù)據(jù)發(fā)生器、掃描發(fā)生器、圖形發(fā)生器和信號格式化器等信號發(fā)生能力，滿足各種器件的功能測試要求；
♦ 算法圖形發(fā)生器實現(xiàn)存儲器激勵信號的產(chǎn)生和輸出信號監(jiān)測
♦ I/O通道均具備三態(tài)編程控制及信號格式化（NRZ, DNRZ, RTZ, RTO, SBC,FORCE）能力，最多可以多達16組；
♦ 具備拓撲及多路轉(zhuǎn)換功能；
標準規(guī)格或主要參數(shù)：
♦ 老化箱溫度范圍：RT+20℃～+150℃或-40℃～+150℃可選；
♦ 12插槽、24插槽和48插槽老化箱可選，PTDM模塊可以任意選配；
♦ HD/H老化板標準尺寸：440mm X 570mm；
♦ 每個PTDM模塊的主要參數(shù)：
? 1G矢量存儲器和失效存儲器；
? 主時鐘：50MHz，定時分辨率：10ns；
? 最多可提供256 I/O通道，48個激勵信號通道和32個特殊監(jiān)測通道；
? 多達4組不同的Vih和Vil數(shù)字信號電平編程設(shè)置能力，保證混合工藝器件的功能測試能力；
? Vih編程范圍：0-8V、Vil編程范圍（）：-0.5V～2V；測試閾值電平Vth編程范圍：0V～8V；
? 48路激勵通道具備超高信號高電平Vihh的編程能力，編程范圍：0V～15V；
? On-the -fly時鐘邊沿設(shè)置數(shù)量：32個；
? I/O通道具備NRZ, DNRZ, RTZ, RTO等格式化編程能力；
? 通道矢量深度：32M
? 每個信號通道的連續(xù)驅(qū)動電流能力：200mA，峰值驅(qū)動電流：3A；
? 4路可編程參考電壓，另外最多可選配6組程控老化電源，可為單個老化板提供108A老化電流；
? 可選配模擬模塊，每個模塊的模擬通道：4路，具備各種標準模擬信號的產(chǎn)生能力；
