低濕恒溫恒濕試驗(yàn)箱 產(chǎn)品用途： 低溫低濕試驗(yàn)箱可模擬產(chǎn)品在一般氣候環(huán)境溫濕組合條件下（高低溫操作&儲(chǔ)存、溫度循環(huán)、高溫高濕、結(jié)露試驗(yàn))的測(cè)試去檢測(cè)產(chǎn)品本身的適應(yīng)能力與特性是否改變，更可以針對(duì)產(chǎn)品在低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕降到低溫低濕..等環(huán)境下是否會(huì)發(fā)生龜裂、破損，另外在低濕環(huán)境下空氣靜電量數(shù)倍于一般環(huán)境，據(jù)悉大部分電子零部件損壞是由靜電所引起的。
測(cè)試規(guī)范： ●可執(zhí)行規(guī)范所要求之結(jié)露與不結(jié)露試驗(yàn)條件。
●執(zhí)行待測(cè)品不結(jié)露試驗(yàn)溫濕度同步斜率控制技術(shù)。
●可執(zhí)行結(jié)露試驗(yàn)前的干燥階段試驗(yàn)條件。
恒溫恒濕試驗(yàn)箱試驗(yàn)條件： ●5%RH：10℃/5%RH 、20℃/5%RH、50℃/5%RH
●10%RH：10℃/10%RH、15℃/10%RH、25℃/10%RH、30℃/10%RH、65℃/10%RH
●15%RH：10℃/15%RH
●20%RH：20℃/20%RH、85℃/20%RH、75℃/20%RH、65℃/20%RH
●40%RH：25℃/40%RH
●90%RH：65℃/90%RH
技術(shù)參數(shù)： | 型號(hào) | ITM-LHC-408L | ITM-LHC-800L |
| 箱內(nèi)尺寸 | W800 mmxH850 mmxD600 mm | W1000×H1000×D800mm |
| 外箱尺寸 | W1000mmxH1950mmxD1900mm | W1200xH1900xD2100mm |
| 電源 | AC380V 5Ø 10kW | AC380V 5Ø 12kW |
| 濕度范圍 | 5 ~ 98 % |
| 溫度分布均勻度 | ±1.0℃(-40℃~100℃) /±1.5℃(-40.0℃～-70℃，100.0℃～150℃） |
| 濕度分布均勻度 | ±5 %RH(中心點(diǎn)) |
| 溫度穩(wěn)定度 | ± 0.2 ℃ |
| 濕度穩(wěn)定度 | ±2 %RH |
| 溫度分辨率 | ± 0.01 ℃ |
| 濕度分辨率 | ± 0.1 % |
| 升溫時(shí)間 | 從25℃升至150℃ 45分鐘，全程平均非線(xiàn)性，空載 |
| 降溫時(shí)間 | 從20℃降至-40℃ 50分鐘，全程平均非線(xiàn)性，空載 |
| 噪聲 | ≤70dB(A) |
| 滿(mǎn)足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) | GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007)低溫試驗(yàn)方法.
GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)高溫試驗(yàn)方法.
GJB150.3-1986 高溫試驗(yàn)；
CJB150..4-1986低溫試驗(yàn);
GB/T2423.3-2006(IEC60068-2-78:2007)試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)方法;
GB/T2423.4-2008(IEC60068-2-30:2005)試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法;
GB/T2423.34-2005試驗(yàn)Z/AD:溫濕組合 |
