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顯微光譜測量系統(tǒng)-MicroTEQ-B1

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公司名稱 北京中瑞先創(chuàng)科技有限公司
品牌
型號(hào)
所在地 北京市
廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
更新時(shí)間 2024/11/24 2:11:10
訪問次數(shù) 11

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴。

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MicroTEQ-B1顯微光譜測量系統(tǒng)，具備透反射測量功能

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MicroTEQ-B1顯微光譜測量系統(tǒng)，具備透反射測量功能。系統(tǒng)選用了共焦收光方式，形成了較小的收光面；除此之外，視野+成像+收光+物面的共軛，可使觀察和測試同時(shí)進(jìn)行。系統(tǒng)中的顯微反射測量模塊可適配市面上大部分主流顯微鏡，滿足客戶對(duì)顯微鏡的不同需求。

成像照片

下圖為使用10X物鏡對(duì)50um小孔進(jìn)行透射率測量時(shí)的聚焦和實(shí)測畫面。

實(shí)測圖譜

系統(tǒng)參數(shù)

型號(hào)	MicroTEQ-B1
光譜儀	可根據(jù)情況自行選配
顯微反射測量模塊	兼容大部分主流顯微鏡
尺寸	220x172x68 mm
重量	2.8 kg
支持波段	400-700 nm
反射照明支持相機(jī)尺寸	1/2”
測量光斑	10 um @ 10x 物鏡 @ 100 um 光纖
測量光斑	50 um @ 10x 物鏡 @ 500 um 光纖