比利時(shí)X射線數(shù)字圖像公司是歐洲的工業(yè)射線數(shù)字檢測(cè)方案的，是比利時(shí)發(fā)展的50家高科技企業(yè)之一，推出的GemX（寶石）系列便攜式射線機(jī)、Gxc移動(dòng)式射線機(jī)、Dereo（迪瑞歐）射線數(shù)字成像系統(tǒng)（DR）。
產(chǎn)品為世界主流的工業(yè)無(wú)損檢測(cè)探傷產(chǎn)品，針對(duì)航空航天、工、運(yùn)輸設(shè)備、機(jī)械制造、壓力容器、電力、石油化工、能源、安檢安監(jiān)、防爆安保和考古科研領(lǐng)域都有專業(yè)的射線檢測(cè)技術(shù)方案和配置。
Dereo（迪瑞歐）系列產(chǎn)品：
高分辨率小型探測(cè)器：HR0510；HR1010；
100μm高分辨率探測(cè)器：UP2530；UP3643；
高能多用途平板探測(cè)器：HE2530；HE4040；
在線式高能平板探測(cè)器：RAD2530，RAD4040。
Dereo HE 2530 高能多用途平板探測(cè)器
主要參數(shù):
探測(cè)器類別：非晶硅/Gadox
射線耐壓：0-15MeV(兆伏=1000千伏)
像素尺寸：139μm
灰度等級(jí)(A/D):16 bits
成像面積：250*300毫米
外形尺寸：W471×H437×T27毫米
整機(jī)重量：8.5公斤
軟件：Xris Maestro V5.1.0
交流電源或自帶電池作業(yè)（持續(xù)工作6~8小時(shí)）
適用于航空&航天（NADCAP認(rèn)證）、石化、機(jī)械和電力等的金屬材料、非金屬材料和復(fù)合材料的缺陷檢測(cè)
Dereo HE 4040 高能多用途平板探測(cè)器
主要參數(shù):
探測(cè)器類別：非晶硅/Gadox
射線耐壓：0-15MeV(兆伏=1000千伏)
像素尺寸：200μm
灰度等級(jí)(A/D):14bits（可選16bits）
成像面積：400*400毫米
外形尺寸：W605×H586×T25毫米
整機(jī)重量：12.3公斤
軟件：Xris Maestro V5.1.0
交流電源或自帶電池作業(yè)（持續(xù)工作6~8小時(shí)）
適用于航空&航天（NADCAP認(rèn)證）、石化、機(jī)械和電力等的金屬材料、非金屬材料和復(fù)合材料的缺陷檢測(cè)
