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光發(fā)射顯微鏡

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公司名稱 深圳市納科電子有限公司
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型號(hào)
所在地 深圳市
廠商性質(zhì) 其他
更新時(shí)間 2024/12/9 16:21:46
訪問(wèn)次數(shù) 19

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開(kāi)模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開(kāi)模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴。

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

我也要發(fā)布產(chǎn)品信息

Advance是中國(guó)臺(tái)灣有名的光發(fā)射顯微鏡制造商，核心技術(shù)來(lái)自日本的Hamamatsu，其原理是利用光子輻射來(lái)探測(cè)，快速找到失效的缺陷部位；主要應(yīng)用于：集成電路元器件失效分析、無(wú)損失效分析、細(xì)微缺陷探測(cè)

詳細(xì)信息在線詢價(jià)

1. EMMI光發(fā)射顯微鏡是一種效率的失效分析工具，提供高靈敏度非破壞性的故障定位方式，可偵測(cè)和定位非常微弱的發(fā)光(可見(jiàn)光及近紅外光)，捕捉各種元件缺陷或異常所產(chǎn)生的漏電流可見(jiàn)光；
2. EMMI偵測(cè)對(duì)應(yīng)故障種類涵蓋ESD、Latch up、I/O Leakage、Junction Defect、Hot Electrons、Oxide Current Leakage等所造成的異常；
3. EMMI對(duì)漏電流的偵測(cè)可達(dá)微安級(jí)別。

Advance特點(diǎn)：

1. 高分辨率，達(dá)0.4µm

2. 正面、背面雙向探測(cè)

3. 納米級(jí)波長(zhǎng)

4. 高靈敏度光子探測(cè)頭

5. 可與其它儀器配合使用，如探針臺(tái)

6. 全電腦控制