采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。

該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。 

產(chǎn)品特點(diǎn):

*光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正 *數(shù)字液晶顯示，帶背光 

*手動(dòng)/自動(dòng)量程切換 *數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電） 

*低電量提醒 *自動(dòng)延時(shí)關(guān)機(jī) 

*有數(shù)字保持 *輕觸按鍵操作，蜂鳴提示 

主要技術(shù)指標(biāo):

波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng)：(以下兩種探測(cè)器選其一) 

（1）UV-420探頭：（光譜響應(yīng)曲線見(jiàn)附圖）λ：(375～475)nm；λP＝420nm 

（2）UV-365探頭：（光譜響應(yīng)曲線見(jiàn)附圖）λ：(320～400)nm；λP＝365nm 

輻照度測(cè)量范圍：(0.1～199.9×103) μW/cm2 

紫外帶外區(qū)雜光：UV420：小于0.02% UV365：小于0.02% 

相對(duì)示值誤差：±8%（相對(duì)與NIM標(biāo)準(zhǔn)） 

角度響應(yīng)特性：±5%(α ≤10°) 

線性誤差：±1% 

換檔誤差：±1% 

短期不穩(wěn)定性：±1%（開(kāi)機(jī)30min后） 

疲勞特性：衰減量小于2% 

零值誤差：滿量程的±1% 

* 響應(yīng)時(shí)間：1秒 

* 使用環(huán)境：溫度(0～40)℃，濕度＜85%RH 

* 尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg 

* 電源：常規(guī)使用6F22型9V積層電池一只，亦可使用數(shù)據(jù)線連接USB接口、5V電源適配器供電 

整機(jī)功耗： ＜0.1VA