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涂層測(cè)厚儀MiniTest720/730/740

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新的MiniTest700涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品線,加強(qiáng)了德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司在涂層測(cè)厚市場(chǎng)的。

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

產(chǎn)品特點(diǎn)

-創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的精確性

-測(cè)量范圍達(dá)15mm,可更換F、NFN探頭,供內(nèi)置或外接探頭使用

-FN探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯(cuò)

 

SIDSP技術(shù)-新技術(shù),智能數(shù)字化的涂層測(cè)厚探頭 
模擬信號(hào)處理時(shí)代已成過去,數(shù)字信號(hào)處理將成為未來(lái)的趨勢(shì)


MINITEST 720/730/740涂層測(cè)厚儀采用的SIDSP是什么?
SIDSP
是由ElektrPhysik(簡(jiǎn)稱EPK)研發(fā)的,的涂層測(cè)厚探頭技術(shù)。EPK此項(xiàng)技術(shù)為涂層測(cè)厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。
SIDSP
即探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理,這項(xiàng)技術(shù)使探頭在測(cè)量時(shí),同時(shí)在探頭內(nèi)部將信號(hào)處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭依據(jù)生產(chǎn)。


MINITEST 720/730/740涂層測(cè)厚儀的SIDSP工作原理?
跟傳統(tǒng)技術(shù)不同,SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號(hào),回傳的信號(hào)經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理,帶給您精確的涂層厚度值。此項(xiàng)的數(shù)字處理技術(shù),同時(shí)應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)(手機(jī)網(wǎng)絡(luò))方面,如數(shù)字濾波器,基帶轉(zhuǎn)換,平均值,隨機(jī)分析,等等。此項(xiàng)技術(shù)能獲得與模擬信號(hào)處理的信號(hào)質(zhì)量和精確度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。
SIDSP
探頭與普通模擬探頭相比,具有決定性的優(yōu)勢(shì),為涂層測(cè)厚設(shè)定了一個(gè)新的標(biāo)準(zhǔn)。



MINITEST 720/730/740涂層測(cè)厚儀為什么選擇SIDSP?
SIDSP
探頭具有的抗干擾性
任何與測(cè)量相關(guān)的信號(hào),都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進(jìn)行處理。測(cè)量信號(hào)不會(huì)通過探頭電纜傳輸時(shí)受到干擾,因?yàn)椴辉儆袦y(cè)量信號(hào)的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電,并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測(cè)量工件需要特別長(zhǎng)的電纜線也沒問題,加長(zhǎng)的電纜線同樣具有的抗干擾能力。

 

MINITEST 720/730/740涂層測(cè)厚儀SIDSP-測(cè)量信號(hào)高穩(wěn)定性

EPKSIDSP探頭具有的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測(cè)量點(diǎn)測(cè)量幾次,每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果,再次證明了SIDSP探頭的優(yōu)秀性能。

 

  

MINITEST 720/730/740涂層測(cè)厚儀高精確度的SIDSP探頭特征曲線
在生產(chǎn)過程中,EPKSIDSP探頭要經(jīng)過嚴(yán)格的校準(zhǔn)。一般的模擬探頭只會(huì)在特征曲線上選幾個(gè)點(diǎn)來(lái)校準(zhǔn),但SIDSP探頭不同:由于是全自動(dòng)化過程,探頭在50個(gè)點(diǎn)上進(jìn)行校準(zhǔn),大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個(gè)量程范圍內(nèi)都十分精準(zhǔn),將測(cè)量錯(cuò)誤降至。

 


MINITEST 720/730/740涂層測(cè)厚儀SIDSP探頭對(duì)溫度變化不敏感

在生產(chǎn)過程中,對(duì)每個(gè)SIDSP探頭都進(jìn)行了溫度補(bǔ)償?shù)木幋a,這對(duì)于模擬探頭是根本不可能實(shí)現(xiàn)的。這樣溫度改變就不會(huì)影響測(cè)量,與溫度相關(guān)的錯(cuò)誤不會(huì)在SIDSP探頭上發(fā)生!


 

MINITEST 720/730/740涂層測(cè)厚儀SIDSP探頭適應(yīng)性強(qiáng)
需要快速測(cè)量幾個(gè)點(diǎn)嗎?只要開啟快速測(cè)量模式,探頭自動(dòng)轉(zhuǎn)換到特定設(shè)置。想進(jìn)行高精度測(cè)量嗎?沒問題,只要選擇高精度模式,儀器同樣能自動(dòng)轉(zhuǎn)換。不論您要求測(cè)量單個(gè)數(shù)值還是連續(xù)測(cè)量,SIDSP都能完成您的選擇!

MINITEST 720/730/740涂層測(cè)厚儀SIDSP NFN型探頭基體導(dǎo)電性補(bǔ)償
由于使用了EPK特殊的自動(dòng)補(bǔ)償方法,SIDSP電渦流探頭可以適應(yīng)多種導(dǎo)電性不同的非鐵基體材料,如銅,鈦,等等,無(wú)需特別在基體上校準(zhǔn)儀器。


 

 

MINITEST 720/730/740涂層測(cè)厚儀SIDSP-未來(lái)解決方案
EPK
將繼續(xù)改進(jìn)SIDSP技術(shù)以滿足客戶的需求。您可以從EPK的網(wǎng)站進(jìn)行免費(fèi)的軟件升級(jí),使您的SIDSP探頭總是版本。


MINITEST 720/730/740涂層測(cè)厚儀及SIDSP
新的MINITEST 700產(chǎn)品線,加強(qiáng)了EPK在涂層測(cè)厚市場(chǎng)的.

有了新的SIDSP F型探頭(測(cè)量鐵基體)和N型探頭(測(cè)量非鐵基體),您可享受到高精確度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢(shì)和便利。新的MINITEST 700可以解決您所有涂層厚度問題,而產(chǎn)品優(yōu)質(zhì)的外觀是您長(zhǎng)期價(jià)值和成功的關(guān)鍵,比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑,或電鍍等行業(yè)。


MINITEST 720/730/740涂層測(cè)厚儀增加了測(cè)量速度設(shè)置選項(xiàng)
MINITEST 700
可以讓您輕松變換測(cè)量需求。在對(duì)精度要求不高的條件下,您可以短時(shí)間測(cè)量大量數(shù)值;也可以只測(cè)量少數(shù)幾個(gè)數(shù)值,但要求精度很高,您只需選擇相應(yīng)的模式就可以做到。測(cè)量值超過您所設(shè)定的極限值時(shí),儀器會(huì)報(bào)警,保證您即使在快速模式下也不會(huì)錯(cuò)過任何信息。儀器具備聲、光報(bào)警,在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示,超過極限值則用紅色LED燈提示。


 

 

 MINITEST 720/730/740涂層測(cè)厚儀使用簡(jiǎn)單方便

MINITEST 700按照人體工學(xué)設(shè)計(jì),外形很適合人手掌握。為了質(zhì)量控制和檢驗(yàn)的靈活性,MINITEST 740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭,方便測(cè)量難以到達(dá)的部位。MINITEST 700系列可以滿足您所有涂層測(cè)量需求:如果您想單手測(cè)量,可以選擇內(nèi)置探頭的720730則是外置探頭的。所有型號(hào)都配有一個(gè)超大、背光的顯示屏,顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn),方便您讀取數(shù)據(jù)。
預(yù)設(shè)選項(xiàng)節(jié)省您的時(shí)間和金錢
所有MINITEST 700探頭都可以對(duì)不規(guī)則形狀表面做出補(bǔ)償。當(dāng)您在無(wú)涂層基體上校零時(shí),整個(gè)量程范圍都在這個(gè)特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進(jìn)行校準(zhǔn)。為節(jié)省您的時(shí)間和金錢,儀器預(yù)設(shè)了大量校準(zhǔn)方法,適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準(zhǔn),零點(diǎn)校準(zhǔn),2點(diǎn)校準(zhǔn)和3點(diǎn)校準(zhǔn)。另外,還有針對(duì)不同粗糙程度的粗糙度校準(zhǔn)。FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體類型避免操作者犯錯(cuò)。為適應(yīng)銷售需要,MINITEST 700滿足各種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):SSPC-PA2,ISO,瑞典(SS184160),澳大利亞(AS 3894.3),ISO 19840ASTM D7091(以前的D1186D1400)。



MINITEST 720/730/740涂層測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)一覽:

-SIDSP使測(cè)量不受干擾,測(cè)值更加精確
-可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置)
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體,使測(cè)量更迅速,避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高精確度的特征曲線
-大存儲(chǔ)量,能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)

-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出

-超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作,25種語(yǔ)言可選
-帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
-可下載更新軟件


MINITEST 720/730/740涂層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置

帶塑料手提箱,內(nèi)含:

 - MiniTest720(內(nèi)置探頭)
-  
MiniTest730(外置探頭)
-  
MiniTest740主機(jī)(不含探頭,有各種探頭可選)
-  
校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板
-  
操作使用說(shuō)明CD,德語(yǔ)、英語(yǔ)、法語(yǔ)、西班牙語(yǔ)
-  
中文說(shuō)明書
-  2
節(jié)AA電池
-  
攜帶軟包

 

推薦配件:

 -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測(cè)量支架


 

技術(shù)參數(shù)

主機(jī)

主機(jī)型號(hào)

MiniTest720

MiniTest730

MiniTest740

探頭類型

內(nèi)置

外置

內(nèi)置外置可換

數(shù)據(jù)記憶組數(shù)

10

10

100

存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量

最多10,000個(gè)

最多10,000個(gè)

最多100,000個(gè)

統(tǒng)計(jì)值

讀值個(gè)數(shù)、最小值、值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)

校準(zhǔn)程序符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范

ISO、SSPC、瑞典標(biāo)準(zhǔn)、澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)

校準(zhǔn)模式

出廠設(shè)置校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)、三點(diǎn)校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值

極限值監(jiān)控

聲、光報(bào)警提示超過極限

測(cè)量單位

μmmm,cm;milsinch,thou

操作溫度

-10~60

存放溫度

-20~70

數(shù)據(jù)接口

IrDA 1.0(紅外接口)

電源

2節(jié)AA電池

標(biāo)準(zhǔn)

DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,388219840
 ASTM B244
,B499D7091,E376
 AS 3894.3
SS 1841 60,SSPC-PA 2

體積

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

175g

210g

175g(內(nèi)置)/230g(外置)

 

探頭

探頭特性

F1.5,N07,FN1.5

F2

F5,N2.5,FN5

F15

F

N

F

F

N

F

測(cè)量范圍

0~1.5mm

0~0.7mm

0~2mm

0~5mm

0~2.5mm

0~15mm

使用范圍

小工件,薄涂層

粗糙表面

標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛

厚涂層

測(cè)量原理

磁感應(yīng)

電渦流

磁感應(yīng)

磁感應(yīng)

電渦流

磁感應(yīng)

信號(hào)處理

探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP)

精確度

±(1μm+0.75%讀值)

±(1.5μm+0.75%讀值)

±(5μm+0.75%讀值)

重復(fù)性

±(0.5μm+0.5%讀值)

±(0.8μm+0.5%讀值)

±(2.5μm+0.5%讀值)

低端分辨率

0.05μm

0.1μm

1μm

最小曲率半徑()

1.0mm

1.5mm

5mm

最小曲率半徑
 (
凹,外置探頭)

7.5mm

10mm

25mm

最小曲率半徑
 (
凹,內(nèi)置探頭)

30mm

30mm

30mm

最小測(cè)量面積

Φ5mm

Φ10mm

Φ25mm

最小基體厚度

0.3mm

40μm

0.5mm

0.5mm

40μm

1mm

連續(xù)模式下測(cè)量速度

每秒20個(gè)讀數(shù)

單值模式下測(cè)量速度

每分鐘70個(gè)讀數(shù)

 

 



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