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MiniTest1100系列

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德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn):MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;所有型號(hào)均可配所有探頭;可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);...

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產(chǎn)品功能 

型號(hào)

1100

2100

3100

4100

MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量

應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))

1

1

10

99

每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì),可設(shè)寬容度極限值)

-

1

10

99

可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)

-

1

500

500

數(shù)據(jù)總量

1

10000

10000

10000

MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能

讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar

-

讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar

-

-

組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)

-

-

-

分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值

-

-

顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間

-

其他功能

透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC)

-

在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)

利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)

補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(Offset)

-

-

外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能

-

保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置

更換電池是存儲(chǔ)數(shù)值

設(shè)置極限值

-

-

公英制轉(zhuǎn)換

連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過模擬柱識(shí)別最小值

-

-

連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)

-

-

浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送

組內(nèi)單值延遲顯示

-

連續(xù)測(cè)量模式中顯示最小值


可選探頭參數(shù)
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層 
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

可選探頭參數(shù)

探頭

量程

低端
 
分辨率

誤差

最小曲率
 
半徑(/)

最小測(cè)量
 
區(qū)域直徑

最小基
 
體厚度

探頭尺寸


 

 
應(yīng)
 

F05

0-500μm

0.1μm

±(1%±0.7μm)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62mm

F1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x170mm

F3

0-3000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F10

0-10mm

5μm

±(1%±10μm)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46mm

F20

0-20mm

10μm

±(1%±10μm)

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66mm

F50

0-50mm

10μm

±(3%±50μm)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70mm


 

FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm
 N50μm

φ15x62mm

FN1.6P

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面

30mm

F0.5mm
 N50μm

φ21x89mm

FN2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm
 N50μm

φ15x62mm


 

 

 

N02

0-200μm

0.1μm

±(1%±0.5μm)

1/10mm

2mm

50μm

φ16x70mm

N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±(1%±1μm)

2.5mm

2mm

100μm

φ15x62mm

N1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

2mm

50μm

φ15x62mm

N1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x170mm

N10

0-10mm

10μm

±(1%±25μm)

25/100mm

50mm

50μm

φ60x50mm

N20

0-20mm

10μm

±(1%±50μm)

25/100mm

70mm

50μm

φ65x75mm

N100

0-100mm

100μm

±(1%±0.3mm)

100mm/平面

200mm

50μm

φ126x155mm

CN02

10-200μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面

7mm

無限制

φ17x80mm

 

注:

F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr
適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
CN02
用于絕緣體上的有色金屬覆層。


探頭圖示

FN1.6
 0
1600μm,φ5mm
 
兩用測(cè)頭,可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層
 
量程低端分辨率很高(0.1μm)

FN1.6P
 0
1600μm,φ30mm
 
兩用測(cè)頭,特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度 

F05
 
0500μm,φ3mm
 
磁性測(cè)頭,適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
 
量程低端分辨宰很高(0.1μm)

F1.6
 
01600μm,φ5mm
 
磁性測(cè)頭
 
量程低端分辨率很高(0.1μm)

F3
 
03000μm,φ5mm
 
磁性測(cè)頭
 
可用于較厚的覆層

F1.6/90
 
01600μm,φ5mm
 90
度磁性測(cè)頭
 
尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量
 
量程低端分辨率很高(0.1μm)

F10
 
010mm,φ20mm
 
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等
 
 

F20
 
020mm,φ40mm
 
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等 

F50
 
050mm,φ300mm
 
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

N02
 
0200μm,φ2mm
 
非磁性測(cè)頭,尤其適合測(cè)量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
 
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N0.8Cr
 
080μm,φ2mm
 
適用于測(cè)量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

N1.6
 
01600μm,φ2mm
 
非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
 
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N1.6/90
 
01600μm,φ5mm
 
磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較薄的絕緣覆層
 
尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量
 
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N10
 
010mm,φ50mm
 
非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

N20
 
020mm,φ70mm
 
非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

N100
 
0100mm,200mm
 
非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

CN02
 
10200μm,φ7mm
 
用于測(cè)量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板



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