XRF鍍層測厚儀FT230
FT230臺式XRF分析儀的設(shè)計(jì)大大減少了進(jìn)行測量的時(shí)間。日立工程師意識到樣品的設(shè)置和測量配方的選擇往往會耗費(fèi)大量的時(shí)間，因此推出了一個(gè)有著突破性的分析儀，其可以有效地 "設(shè)置 "自己，使得在過程中可以分析更多的零件。
自動化和創(chuàng)新軟件是FT230分析儀的特點(diǎn)。智能識別模塊，如Find My Part™（查找我的樣品），意味著操作者只需裝載樣品，確認(rèn)零件，F(xiàn)T230就會處理其余的事情。它將在您的部件上找到正確的測量位置--即使是在大型基材上--選擇正確的分析程序并將結(jié)果發(fā)送到您的質(zhì)量系統(tǒng)。減少了時(shí)間和人為的錯誤，使得你可以在更短的時(shí)間內(nèi)完成更多的分析，使99%的檢查在繁忙的生產(chǎn)環(huán)境中更加現(xiàn)實(shí)。
XRF鍍層測厚儀FT230產(chǎn)品亮點(diǎn)：
FT230的每一個(gè)部分都是為了大幅減少分析時(shí)間而設(shè)計(jì)的。
自動聚焦減少樣品裝載時(shí)間
Find My Part™ 自動進(jìn)行智能識別以設(shè)置完整的測量程序
屏幕大部分區(qū)域用來顯示樣品視圖，提供了的可視度
自檢診斷程序確保了儀器的狀況和穩(wěn)定性
與其他軟件的無縫集成使其能夠輕松導(dǎo)出數(shù)據(jù)
由于采用了新的用戶界面，非專業(yè)人員也能直觀、方便地使用。
功能強(qiáng)大，可同時(shí)測量四層鍍層也可分析基質(zhì)
經(jīng)久耐用，在充滿考驗(yàn)的生產(chǎn)或?qū)嶒?yàn)室環(huán)境中使用壽命長
符合ASTM B568和DIN ISO 3497標(biāo)準(zhǔn)
幫助您滿足ENIG（IPC-4552B）、ENEPIG（IPC-4556）、浸沒錫（IPC-4554）和浸沒銀（IPC-4553A）的規(guī)格要求
FT230 臺式 XRF 分析儀技術(shù)規(guī)格：
分析 | 詳細(xì) |
X射線管 | 鎢（W）靶微焦點(diǎn)X射線管，自上向下照射式 50 kV，1000µA，50 W |
探測器
| 高分辨率, 大面積50 mm2 SDD |
初級濾波器 | 5個(gè)初級濾波器（2種鋁膜、鈦膜、鉬膜、鎳膜）+ 1個(gè)無濾波器位 |
準(zhǔn)直器 | 4個(gè)準(zhǔn)直器，有長圓形和圓形兩種可供選擇，尺寸范圍為從0.01 x 0.25 mm到1 mm（0.5 x 10 mil到40 mil） |
元素范圍 | 鋁（13） -鈾（92） |
層數(shù)
| 最多5層（4層加基底） |
可選元素 | 自由選擇 |
大氣補(bǔ)償
| 自動溫度和壓力補(bǔ)償 |
規(guī)范 | 能量色散X射線熒光測量鍍層符合ASTM B568、DIN ISO 3497 |
分析 詳細(xì)內(nèi)
