丞普諾儀器（蘇州）有限公司產(chǎn)品可以與國外同類產(chǎn)品相媲美。本公司擁有行業(yè)的技術(shù)人才具有豐富的設(shè)計(jì)制造經(jīng)驗(yàn)。多年來與各大學(xué)、科研院所保持著緊密的合作關(guān)系。

　　膜厚測試儀的工作原理，當(dāng)心損壞機(jī)器

　　涂鍍層測厚儀的相關(guān)工作原理之近年來的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制丈量信號。還采用設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī)，使丈量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的進(jìn)步(幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)目級)?，F(xiàn)代的磁感應(yīng)測厚儀，分辨率達(dá)磁感應(yīng)測厚儀_電渦流丈量原理_磁吸力丈量原理及測厚儀_電渦流原理的測厚儀到0.1um，應(yīng)誤差達(dá)1%，量程達(dá)10。

　　膜厚儀采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可丈量，如航天表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可丈量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。

　　膜厚儀也叫X射線測厚儀，它的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析。

　　膜厚儀分類

　　定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

　　光譜對比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.

　　統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便有效的控制品質(zhì).

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