超聲波測厚儀UT200

• 采用PE、IE、測試三種測量模式，可穿越涂層進行精準測量厚度

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•  采用高精度計時芯片和V-PATH校準模型，測量范圍廣，測量精度高

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•  可對測量信息進行完整的儲存，包括厚度測量值、測量聲速及時間信息

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•  顯示分辨率為0.01mm或0.1mm(可選)

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•  液晶顯示對比度可調(diào)，且具有LED背光顯示，可在各種光線環(huán)境下使用

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•  配備上位機軟件，方便各項數(shù)據(jù)讀取

         本測厚儀采用界面回波與底面回波差(IE)測厚原理和脈沖反射(PE)超聲波測量原理，能穿越涂層對產(chǎn)品厚度進行測量，同時也配置了測試功能，能檢驗貴重金屬內(nèi)部是否摻假并鑒定純度，主要用于金條、銀條和、銀幣等貴重金屬的鑒定。此儀器可對各種板材和各種加工零件作精準測量，廣泛應用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領域。

  

  產(chǎn)品展示

  

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