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鎢燈絲掃描電子顯微鏡EVO MA 25/LS 25

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公司名稱 石家莊飛泰檢測(cè)儀器有限公司
品牌
型號(hào)
所在地 石家莊市
廠商性質(zhì) 其他
更新時(shí)間 2024/12/26 16:56:49
訪問(wèn)次數(shù) 7

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促銷詳細(xì)：

2020年01月08日至 2020年02月08日

特價(jià)促銷

模內(nèi)澆口分離自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴。

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

我也要發(fā)布產(chǎn)品信息

鎢燈絲掃描子顯微鏡EVOMA25/LS25詳細(xì)描述：品牌：卡爾·蔡司型號(hào)：EVOMA25/LS25制造商：德國(guó)卡爾蔡司公司經(jīng)銷商：【品牌故事】光學(xué)品牌，可見光及子光學(xué)----德國(guó)蔡司公司始創(chuàng)于1846年

詳細(xì)信息在線詢價(jià)

鎢燈絲掃描子顯微鏡EVO MA 25/LS 25

詳細(xì)描述：

品牌：卡爾·蔡司
型號(hào)：EVO MA 25/LS 25
制造商：德國(guó)卡爾蔡司公司
經(jīng)銷商：

【品牌故事】
光學(xué)品牌，可見光及子光學(xué)----德國(guó)蔡司公司始創(chuàng)于1846年。其子光學(xué)前身為L(zhǎng)EO（里奧）,更早叫Cambridge（劍橋），積掃描鏡領(lǐng)域40多年及透射鏡領(lǐng)域60年的經(jīng)驗(yàn)：

CARL ZEISS以其前瞻的設(shè)計(jì)融合歐洲制造工藝造就了該品牌在光子領(lǐng)域無(wú)可撼動(dòng)的位。自成立至今，一直延續(xù)不斷創(chuàng)新的統(tǒng)，公司擁有鏡制造的專有技術(shù)，隨著離子束技術(shù)和基于子束的分析技術(shù)的加入、為您提供鎢燈絲掃描鏡、場(chǎng)發(fā)射掃描鏡、雙束顯微鏡(FI and SEM)、透射子顯微鏡等全系列解決方案的鏡制造企業(yè)。其產(chǎn)品的高性能、高質(zhì)量、高可靠性和穩(wěn)定性已得到廣大用戶的信賴與認(rèn)可。

【總體描述】
EVO系列鏡是高性能、功能強(qiáng)大的高分辨應(yīng)用型掃描子顯微鏡。EVO MA 25用于材料領(lǐng)域,LS 25用于生命科學(xué)領(lǐng)域。該系列鏡采用多接口的大樣品室和藝術(shù)級(jí)的物鏡設(shè)計(jì)，提供高低空成像功能，可對(duì)各種材料表面作分析，并且具有業(yè)界的X射線分析技術(shù)。革命性的eamsleeve的設(shè)計(jì)，確保在低壓條件下提供高分辨率的銳利圖像，同時(shí)還可以進(jìn)行準(zhǔn)確的能譜分析。樣品臺(tái)為五軸全自動(dòng)控制。標(biāo)準(zhǔn)的無(wú)油渦輪分子泵能夠滿足快速的樣品更換成像分析。

【技術(shù)參數(shù)】
    分辨率：3.0nm@ 30KV(SE and W)
            4.0nm@ 30KV(VP with SD)
    加速壓：0.2—30KV
     放大倍數(shù)：5—1000000x
     探針流：0.5PA-5μA
     X-射線分析工作距離：8.5mm    35度接收角
     低空壓力范圍：10—400Pa (LS25：10-3000Pa)
     工作室：420mm(φ)×330mm(h)
     5軸試樣載物臺(tái)：X=130mm  Y=130mm  Z=50mm  T=-10°- 90°R=360°

大試樣高度：210mm，試樣大直徑：300mm
系統(tǒng)控制：基于Windows 7 的SmartSEM操作系統(tǒng)

【主要特點(diǎn)】
樣品高度可達(dá)210mm
大樣品重量5Kg
大的樣品直徑300mm
在可變壓力下操作
     高亮度La6資源選擇
     光線套選擇

【產(chǎn)品應(yīng)用】
掃描鏡(SEM)廣泛應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗(yàn)和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測(cè)量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測(cè)量。