Inspect F50 掃描電鏡采用*的樣品室真空技術以及FEI的世界*電子光學和樣品生產量技術。只要檢驗、表征、工藝控制和 失效分析至關重要

Inspect F50 掃描電鏡采用*的樣品室真空技術以及FEI的世界*電子光學和樣品生產量技術。只要檢驗、表征、工藝控制和 失效分析至關重要，則Inspect S50和Inspect F50型顯微鏡的高分辨率成像*。
 

Inspect F50 掃描電鏡特點

• 易用且直觀的軟件可確保初學者也能進行高效操作。
• 確保使用穩(wěn)定的高電流 FEG （zui高 200 nA）進行快速、準確的 EDS 和 EBSD 分析。
• 大幅減少更改加速電壓 （kV） 時對鏡筒的調整。 所有調整均會依據(jù)用戶選擇的加速電壓及/或照射點設置自動執(zhí)行。
• 利用可選射束減速模式獲取導電樣品的表面和成分信息。