安規(guī)測試儀檢定裝置有以下幾種 回路電阻測試儀校驗儀 模擬交直流標準電阻器 HN系列 絕緣電阻表校驗儀 規(guī)格齊全
HN8061A兆歐表檢定裝置
依據(jù)JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規(guī)程》、JJG622—1997《絕緣電阻表(兆歐表)檢定規(guī)程》,用于檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔:0~500V 0~5000V -10000V
短路電流:0~2mA 0~20mA
電阻0-200G-1T-10T配件ZS1000附帶了多種配件。請注意,大多數(shù)和接地引線非常小。物理尺寸較小意味著電容和電感較低,這意味著受測試電路的負載較小。較長的接地引線和微型夾適用于低頻應(yīng)用,它們增加的電抗并不會影響測量。:ZS10001GHz有源附帶了大量配件,包括適用于低頻信號的長接地引線,還有,它們讓用戶能夠更容易對測試點進行操作。(圖片來源:TeledyneLeCroy)標準是針對常規(guī)探測而設(shè)計的。
HN8062A接地電阻表校驗裝置
用于檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規(guī)程》所適用的我目前生產(chǎn)的型號的模擬式、數(shù)字式接地電阻表以及進口的同類儀表,也可做普通電阻箱使用,具有調(diào)節(jié)范圍寬,使用方便,造型美觀等優(yōu)點。OCP即可重新啟動輸出。輸出功率較低的電源與輸出功率較高的電源相比,其噪聲更低。那些用于測試LED陣列的電源,其輸出噪聲通常都小于350uVrms。E36312A三路輸出電源在所有三路輸出上均有20mA的量程,非常適于測量低電流。使用它的低量程測量小于20mA的電流時,我們可以獲得更高的分辨率和精度。技巧2表征不斷變動的功耗狀態(tài)許多設(shè)備都被設(shè)計為能夠在不同的時間使用不同的功耗。某些設(shè)備可在工作狀態(tài)與睡眠狀態(tài)之間切換功耗,從而延長電池的使用壽命。
HN8063A耐電壓測試儀校驗裝置
1、測量準度:
電壓:1000v 2500v 5000v 10000v 30000v
準度:1級 0.5級 0.2級矢量網(wǎng)絡(luò)儀作為射頻微波元器件性能評價的一個基本工具,有著廣泛的應(yīng)用,下面我們通過一個濾波器的測試過程來看一看矢量網(wǎng)絡(luò)儀E5063A是如何測試一個射頻微波元器件的。Step1設(shè)置矢量網(wǎng)絡(luò)儀E5063A的測試參數(shù):起始和截至頻率,中頻帶寬和測試點數(shù),然后執(zhí)行校準移除系統(tǒng)誤差,這里我們使用了既快又準的E-cal校準。在校準前請觀察E-Cal的LED指示燈是否已經(jīng)變?yōu)榫G色,綠色代表ECal已經(jīng)準備完畢可以開始校準(如果您使用的是N755x系列電子校準件,它啟動后即可開始校準,無需等待)。
HN8065A型泄漏電流測試儀檢定裝置
一、性能特點
1、源、表測量范圍:
電壓源(AC,DC):電壓:250V、50V、5V
電流源(AC,DC):20mA、2mA
頻率計:10-100Hz對TBC試件進行早期無損檢測具有重大意義。實驗原理根據(jù)Grzegorz采用盲孔缺陷代替脫粘缺陷進行的方法,在對TBC脫粘缺陷的檢測實驗中,通常在TBC試件的金屬基底上制作盲孔缺陷來模擬真實的脫粘缺陷。本文的線激光掃描熱成像方法分為粗掃描階段和細掃描階段。在粗掃描階段的檢測原理中,LLFST系統(tǒng)能夠在TBC試件表面匯聚出激光點,控制激光點以直線方向高速移動。當掃描速度足夠快且做線狀移動時,激光點可以看作是線激光。
HN8066A型接地導(dǎo)通電阻測試儀檢定裝置
2、一次額定電流:25A、2.5A。(大30A、3A)
3、電阻四盤連續(xù)帶電可調(diào)。
4、直接指示一次電流值,可做交直流大電流標準表用。為什么這么說呢?我們來看一個設(shè)計示例:0-1012V標稱值、5mΩ的感測電阻。:明顯的電流檢測方案使用差分放大器。這種方案甚至都不需考慮使用分立電阻,除非它們是精密匹配網(wǎng)絡(luò)的一部分(當然也就不是真正分立的)。對于1V的電源電壓偏移和80dB的差分放大器CMRR(這意味著約0.01%的電阻匹配),你會看到相當于20mA的電流漂移(1V變化、80dB的CMRR導(dǎo)致輸入0.1mV偏移,再除以5mΩ檢測電阻的5mV/A標定)。
HN8068A型回路電阻測試儀,直流電阻測試儀檢定裝置
2 一次額定電流:
1A、10A、100A、200A、300A、600A
3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調(diào)。
4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標準表用。
回路電阻測試儀校驗儀 模擬交直流標準電阻器 HN系列 絕緣電阻表校驗儀 規(guī)格齊全原子吸收光譜法,是基于氣態(tài)的基態(tài)原子外層電子對紫外光和可見光范圍的相對應(yīng)原子共振輻射線的吸收強度來定量被測元素含量為基礎(chǔ)的方法,是一種測量特定氣態(tài)原子對光輻射的吸收的方法。此法是20世紀50年代中期出現(xiàn)并在以后逐漸發(fā)展起來的一種新型的儀器方法,它在地質(zhì)、冶金、機械、化工、農(nóng)業(yè)、食品、輕工、生物醫(yī)藥、環(huán)境保護、材料科學(xué)等各個領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。該法主要適用樣品中微量及痕量組分。每一種元素的原子不僅可以發(fā)射一系列特征譜線,也可以吸收與發(fā)射線波長相同的特征譜線。