硅鋼K200測(cè)量裝置
硅鋼K200測(cè)量裝置采用計(jì)算機(jī)控制的數(shù)字化電源和A/D數(shù)據(jù)采集，硅鋼K200測(cè)量裝置取代傳統(tǒng)的模擬電源（橋）、頻率表、電流表、電壓表和功率表，整個(gè)測(cè)試過程自動(dòng)完成。
硅鋼K200測(cè)量裝置的適用標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 3655-2000 用愛潑斯坦方圈測(cè)量電工鋼片(帶)磁性能的方法
GB/T 13789-2008 用單片測(cè)試儀測(cè)量電工鋼片(帶)磁性能的方法
GB/T 3658-2008 軟磁材料交流磁性能環(huán)形試樣的測(cè)量方法
IEC 60404-2 用愛潑斯坦方圈測(cè)量電工鋼片(帶)磁性能的方法
IEC 60404-3 用單片測(cè)試儀測(cè)量電工鋼片(帶)磁性能的方法
IEC 60404-6 軟磁材料交流磁性能環(huán)形試樣的測(cè)量方法
硅鋼K200測(cè)量裝置的主要特點(diǎn)
⑴、采用計(jì)算機(jī)控制的數(shù)字化電源和A/D數(shù)據(jù)采集，取代傳統(tǒng)的模擬電源（橋）、頻率表、電流表、電壓
表和功率表，整個(gè)測(cè)試過程自動(dòng)完成。
⑵、采用Windows測(cè)量軟件，使用方便。軟件功能強(qiáng)大，對(duì)測(cè)試人員的專業(yè)技術(shù)要求極低。
⑶、測(cè)試樣品的種類：熱軋、冷軋取向和無取向的硅鋼材料，坡莫合金、非晶和納米晶材料。
⑷、測(cè)試樣品的形狀：帶狀、片狀等開路樣品，環(huán)形、E形、U形等閉路樣品。
⑸、硅鋼材料測(cè)量采用25cm愛潑斯坦方圈，也可以選配SST-500單片磁導(dǎo)計(jì)。閉路樣品可以繞線測(cè)量，
或者定制多芯夾具直接測(cè)量，成品變壓器也可以直接測(cè)量。
⑹、樣品（鐵心）、磁化線圈（N1）、測(cè)量線圈（N2）共同組成一個(gè)空載變壓器。
⑺、磁化線圈回路串接無感電阻,通過測(cè)量無感電阻上的壓降來確定磁化電流，得到磁場(chǎng)強(qiáng)度，磁場(chǎng)峰值的鎖定通過數(shù)字反饋來實(shí)現(xiàn)，磁場(chǎng)鎖定精度為0.5%。
⑻、通過對(duì)測(cè)量線圈的電壓進(jìn)行數(shù)字積分來得到磁感應(yīng)強(qiáng)度，磁感峰值的鎖定通過數(shù)字反饋來實(shí)現(xiàn)，磁感鎖定精度為0.2%。
⑼、功率源和采樣放大器集成在一個(gè)機(jī)箱內(nèi)，使得裝置的接口非常簡(jiǎn)單： 一個(gè)RS232接口與計(jì)算機(jī)連接，二路電壓信號(hào)接到A/D卡。
⑽、采用伏安法和數(shù)字積分測(cè)量動(dòng)態(tài)磁滯回線，可準(zhǔn)確測(cè)量μa、δ、Ps、Br和Hc等動(dòng)態(tài)磁特性參數(shù)。
⑾、自動(dòng)連續(xù)測(cè)量多達(dá)255個(gè)測(cè)試點(diǎn)，每個(gè)測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試時(shí)間約30秒，多點(diǎn)測(cè)試可選擇固定頻率、固定
Bm或固定Hm。
硅鋼K200測(cè)量裝置的軟件功能
⑴、運(yùn)行于Windows7操作系統(tǒng)，符合Windows軟件規(guī)范。
⑵、可定B（磁感）或定H（磁場(chǎng)）測(cè)量，滿足多種測(cè)試要求。
⑶、全自動(dòng)控制，智能化判斷，整個(gè)測(cè)試過程無需用戶干預(yù)。
⑷、測(cè)試過程實(shí)時(shí)監(jiān)控采樣波形和儀器狀態(tài)，并可隨時(shí)中止。
⑸、根據(jù)樣品的外形尺寸計(jì)算樣品的有效截面積和有效磁路長(zhǎng)度。
⑹、文件系統(tǒng)采用數(shù)據(jù)庫格式，可直接打印或輸出測(cè)試結(jié)果到Excel表格。
⑺、文件管理功能強(qiáng)大：有保存數(shù)據(jù)，刪除數(shù)據(jù)，**全部數(shù)據(jù)等功能。
⑻、數(shù)據(jù)文件包含完整的采樣數(shù)據(jù)、樣品參數(shù)、儀器參數(shù)和測(cè)試方案，文件采用文本格式，可方便地輸入到 其
它軟件中。
⑼、顯示I(t)、U(t)、B(t)采樣波形和B(H)磁滯回線，并可顯示曲線上每一個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的坐標(biāo)信息。
⑽、進(jìn)行多點(diǎn)組簇后，可顯示B(H)磁滯回線簇、B(H)磁化曲線、μa(H)磁導(dǎo)率曲線和Ps(B)損耗曲線，可顯示
曲線上每一個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的坐標(biāo)信息。
⑾、可將不同條件下測(cè)得的B(H)磁化曲線和Ps(B)損耗曲線組合到一張圖紙上，以便進(jìn)行對(duì)比分析。
⑿、按μa、Ps、Bm、Br、Hc和Hm等參數(shù)設(shè)定上下限，對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行合格判定，通過數(shù)據(jù)表格的顏色來
確定。
⒀、支持各種型號(hào)的打印機(jī)，測(cè)試報(bào)告與打印機(jī)紙張**匹配；具有打印預(yù)覽的功能，可方便地調(diào)整測(cè)試報(bào)告
的大小和邊距；可直接打印測(cè)試報(bào)告，或?qū)y(cè)試報(bào)告生成JPG圖片文件。
⒁、可通過發(fā)送JPG圖片文件，或?qū)?span>JPG圖片文件保存到磁盤。
⒂、測(cè)試報(bào)告包含完整的曲線圖、測(cè)試結(jié)果、測(cè)試條件和樣品參數(shù)。
⒃、可采用中、英文格式，可方便添加用戶標(biāo)志和企業(yè)名稱。
⒄、有多種單位制式可選，以保證不同用戶各自的使用習(xí)慣。
技術(shù)參數(shù)
1、依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 3655-2000，在50Hz、60Hz頻率下，使用25cm愛潑斯坦方圈測(cè)量30×300的硅鋼標(biāo)
樣，技術(shù)指標(biāo)如下：
| 被測(cè)參數(shù) | Ps(%) | Ss(%) | Hrms(%) | Bm(%) | Hm(%) |
| 不確定度(k=2) | 1 | 1 | 2 | 1 | 2 |
| 重復(fù)性(恒溫) | ± 0.5 | ± 0.5 | ± 1 | ± 0.5 | ± 1 |
| 備注 | 鎖B測(cè)試：無取向片Bm≤1.5T 取向片Bm≤1.7T | 鎖H測(cè)試：無取向片Hm≥1000A/m
取向片Hm≥500A/m |
| | | | | | | |
2、 依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 13789-2008，在50Hz、60Hz頻率下，使用SST-500單片磁導(dǎo)計(jì)測(cè)量500×500的硅鋼
標(biāo)樣，技術(shù)指標(biāo)如下：
| 被測(cè)參數(shù) | Ps(%) | Ss(%) | Hrms(%) | Bm(%) | Hm(%) |
| 不確定度(k=2) | 1.5 | 1.5 | 2 | 1 | 3 |
| 重復(fù)性(恒溫) | ± 0.5 | ± 0.5 | ± 1 | ± 0.5 | ± 1 |
| 備注 | 鎖B測(cè)試：無取向片Bm=0.8～1.5T
取向片Bm=1.0～1.8T | 鎖H測(cè)試：無取向片Hm≤10000A/m取向片Hm≤1000A/m |
| | | | | | | |
3、依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 3658-2008，在50Hz～1kHz頻率下，測(cè)量坡莫合金環(huán)形試樣，技術(shù)指標(biāo)如下：
| 被測(cè)參數(shù) | Ps(%) | μa(%) | δ(%) | Bm(%) | Hm(%) |
| 不確定度(k=2) | 3 | 2 | - | 1 | 1 |
| 重復(fù)性(恒溫) | ± 1.5 | ± 1 | ± 1 | ± 0.5 | ± 0.5 |
| 備注 | 1、試樣應(yīng)為薄壁環(huán)，外徑/內(nèi)徑≤1.25。
2、測(cè)試前應(yīng)先退磁，退磁場(chǎng)頻率≤測(cè)試頻率。
3、不確定度為“-”，表示國(guó)標(biāo)中不要求。 |
硬件參數(shù)
1、主機(jī)參數(shù)
⑸、MATS-2010M/k200 硅鋼測(cè)量裝置
輸出功率：2000VA正弦波（400Hz以下）
頻率范圍：45Hz～1000Hz
頻率細(xì)度：1Hz
頻率誤差：< 0.05%
輸出電壓：0～10V～50V～80V～100V，四檔自動(dòng)量程
電壓細(xì)度：程控1mV，面板 < 0.1%×當(dāng)前量程
電壓失真度：優(yōu)于0.5%
電壓穩(wěn)定度：優(yōu)于0.02%
電流采樣：5mA～20A，十二檔自動(dòng)量程
電壓采樣：100mV～400V，十二檔自動(dòng)量程
2、數(shù)據(jù)采集卡
⑴、PC6111 A/D卡（適用于MATS-2010M/k50、MATS-2010M/k75和 MATS-2010M/k200）
轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤ 2.5μs（每通道）
分辨率和線性度：12Bit±1LSB
電壓量程：±5V～±10V（滿量程）
采樣時(shí)標(biāo)：6μs～10ms硬件時(shí)標(biāo)
內(nèi)存容量：4kByte
3、工控計(jì)算機(jī)（研華IPC-510）
主板：G41，5PCI槽，2*RS-232
CPU：英特爾奔騰E5300雙核2.6G
內(nèi)存：DDR3 1333， 2G
硬盤：希捷500G，SATA，16M
操作系統(tǒng)： Windows XP或Windows 7
4、打印機(jī)
產(chǎn)品類型：黑白激光打印機(jī)
*大打印幅面：A4
黑白打印速度：達(dá)到18ppm
*高分辨率：1200x1200dpi
耗材類型：鼓粉一體
進(jìn)紙盒容量：150頁，普通紙
勵(lì)磁裝置
1、ES-700愛潑斯坦方圈
| 環(huán)境溫度：23℃±5℃ 濕 度：＜65％ 適用標(biāo)準(zhǔn)：GB3655-2008和IEC 60404-2 等效磁路：940mm 匝 數(shù)： 初級(jí)700匝，次級(jí)700匝 樣品尺寸：寬30mm±0.2mm,長(zhǎng)280～320mm±0.5mm 試樣質(zhì)量：240g∽1000g 適用頻率范圍：直流 ∽400Hz。 | |
5、成品硅鋼鐵芯測(cè)量
| 可直接在電機(jī)定子鐵芯、成品變壓器鐵芯和軟磁閉路樣品上繞制N1和N2線圈，直接測(cè)量鐵芯的交流（動(dòng)態(tài)）磁性能參數(shù)。 | |
6、軟磁環(huán)形樣品測(cè)量
| 可直接在軟磁閉路樣品上繞制N1和N2線圈，直接測(cè)量磁芯的交流（動(dòng)態(tài)）磁性能參數(shù)。 | |
各種測(cè)量方法及其特點(diǎn)
| 序號(hào) | 測(cè)量 方法 | 勵(lì)磁機(jī)構(gòu) | 特點(diǎn) | 測(cè)試對(duì)像 |
| 1 | 方圈法 | 愛潑斯坦方圈 | 方圈法是IEC推薦的主要測(cè)量方法，通用性比較強(qiáng)，測(cè)試精度高 | 厚度0.23mm及以上的熱扎、冷扎取向和冷扎無取向硅鋼材料 |
| 2 | 鐵芯測(cè)試工裝 | 非標(biāo)定制 | 主要用于成品電機(jī)定子鐵芯、非晶寬帶卷繞磁芯等批量磁性元件快速測(cè)量 | 成品電機(jī)鐵芯 |
| 3 | 繞線法 | 直接繞線測(cè)量 | 與交流測(cè)試方法相同 | 硅鋼、非晶、納米晶和坡莫合金等軟磁材料閉路樣品 |
標(biāo)準(zhǔn)配置
| 序號(hào) | 產(chǎn)品名稱 | 型號(hào)規(guī)格 | 數(shù)量 | 單位 | 備注 |
| 1 | 硅鋼測(cè)量裝置 | MATS-2010M/k200 | 1 | 套 | |
| 2 | 數(shù)據(jù)采集卡 | PC6111 | 1 | 塊 | |
| 3 | 測(cè)量軟件 | SMTest | 1 | 套 | |
| 4 | 工控計(jì)算機(jī) | 研華IPC-510 | 1 | 套 | 配18.5寸液晶顯示器 |
| 5 | 打印機(jī) | HP1108 | 1 | 臺(tái) | 黑白激光打印機(jī) |
| 6 | 愛潑斯坦方圈 | ES-700 | 1 | 個(gè) | |
| 7 | 方圈標(biāo)樣 | 30mm×300mm | 1 | 付 | 附第三方檢定報(bào)告 |
| 8 | 標(biāo)準(zhǔn)機(jī)柜 | | 1 | 個(gè) | 贈(zèng)送 |
可選配置
| 序號(hào) | 產(chǎn)品名稱 | 型號(hào)規(guī)格 | 主要技術(shù)特點(diǎn) | 備注 |
| 1 | 鐵芯測(cè)試工裝 | 非標(biāo) | 適用頻率：50Hz和60Hz | 用于成品電機(jī)定子鐵芯和非晶寬帶卷繞鐵芯快速測(cè)量 |
