LM57-Q1 汽車(chē)類(lèi)溫度傳感器更新：2023-1-3 15:40:48點(diǎn)擊：產(chǎn)品品牌TI產(chǎn)品型號(hào)LM57-Q1產(chǎn)品描述具有電阻可編程溫度開(kāi)關(guān)的汽車(chē)類(lèi)溫度傳感器...PDF下載 詢(xún)價(jià) 申請(qǐng)樣品

 描述

LM57-Q1 器件是一款具有模擬溫度傳感器輸出的精密雙路輸出溫度開(kāi)關(guān)，適用于寬溫度范圍的應(yīng)用（例如汽車(chē)級(jí)）。跳變溫度 (T_TRIP) 可從 –40°C 至 160°CV_TEMP 是 AB 類(lèi)模擬電壓輸出，該電壓輸出與溫度成正比，負(fù)溫度系數(shù) (NTC) 可編程。 兩個(gè)外部 1% 電阻設(shè)置 T_TRIP 和 V_TEMP 斜率。數(shù)字和模擬輸出具有保護(hù)功能，并且可監(jiān)視系統(tǒng)過(guò)熱事件。

內(nèi)置的熱滯后功能 (T_HYST) 可防止數(shù)字輸出發(fā)生振蕩。 T_OVER 和T_OVER 數(shù)字輸出將在芯片溫度超過(guò) T_TRIP 時(shí)置為有效，在芯片溫度低于 T_TRIP 與 T_HYST 的差值時(shí)置為無(wú)效。

T_OVER 為高電平有效，并且采用推挽結(jié)構(gòu)。 T_OVER 為低電平有效，并且采用開(kāi)漏結(jié)構(gòu)。 將 T_OVER 與 TRIP-TEST 相連，可在輸出發(fā)生跳變后將其鎖存。將 TRIP-TEST 強(qiáng)制為低電平可將輸出清零。 將 TRIP-TEST 驅(qū)動(dòng)為高電平會(huì)將數(shù)字輸出置為有效。處理器可檢查 T_OVER 或 T_OVER 的狀態(tài)，從而確認(rèn)它們是否已切換至激活狀態(tài)。 這樣一來(lái)，便可以在系統(tǒng)裝配后現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證比較器和輸出電路的功能。當(dāng) TRIP-TEST 為高電平時(shí)，V_TEMP 引腳為跳變基準(zhǔn)電壓。系統(tǒng)隨后可使用該電壓計(jì)算 LM57-Q1 的閾值。

  特性

● 符合汽車(chē)級(jí)應(yīng)用要求。關(guān)于商用器件，請(qǐng)參見(jiàn)數(shù)據(jù)表

● 具有符合 AEC-Q100 的下列結(jié)果：

  ○ 溫度 0 級(jí)擴(kuò)展：−50°C 至 +160°C 的工作溫度范圍，甚至可高達(dá) 170°C

  ○ 溫度 0 級(jí)：-50°C 至 +150°C 的工作溫度范圍

  ○ 溫度 1 級(jí)：-50°C 至 +125°C 的工作溫度范圍

  ○ 人體模型 (HBM) 靜電放電 (ESD) 組件分類(lèi)等級(jí) 2

  ○ 充電器件模型 (CDM) ESD 組件分類(lèi)等級(jí) C5

● 可通過(guò)外部電阻在 −40°C 至 +150°C 溫度范圍內(nèi)設(shè)置跳變溫度，
精度為 ±2.3°C

● 電阻容差不會(huì)引入誤差

● 推挽和開(kāi)漏開(kāi)關(guān)輸出

● 寬工作溫度范圍：−50°C 至 160°C

● 線性模擬 V_TEMP 溫度傳感器輸出，−50°C 至 +150°C 溫度范圍內(nèi)的精度為
±1.3°C

● 具有短路保護(hù)的模擬和數(shù)字輸出

● 數(shù)字輸出具有鎖存功能

● TRIP-TEST 引腳支持系統(tǒng)內(nèi)測(cè)試

● 低功耗特性極大程度減少自發(fā)熱，使其低于 0.02°C