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參考價 | 面議 |
- 公司名稱 上海西努光學(xué)科技有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 上海市
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2016/11/9 13:46:27
- 訪問次數(shù) 555
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USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀采用特殊光學(xué)系,消除背面反射光。不必進(jìn)行背面的防反射處理,可正確測定表面的反射率。
USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀的特點:
◆消除背面反射光
采用特殊光學(xué)系,消除背面反射光。不必進(jìn)行背面的防反射處理,可正確測定表面的反射率。
◆可測定微小領(lǐng)域的反射率
用對物鏡對焦于小區(qū)域(φ60μm),可測定鏡片曲面以及鍍膜層斑點。
◆測定時間短
使用Flat Field Grating(平面光柵)和線傳感器的高速分光測定,可迅速實現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。
◆XY色度圖、L*a*b測定可能
以分光測定法為基準(zhǔn),從分光反射率情況可測定物體顏色。
◆可測定的Hard Coat(高強度鍍膜)膜厚
用于涉光分光法,可以不接觸、不破壞地測定被測物的膜厚(單層膜)。
USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀主要用途:
1、各種透鏡(眼鏡透鏡、光讀取透鏡等)
2、反射鏡、棱鏡以及其他鍍膜部品等的分光反射率、膜厚測定(單層膜)
USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀:規(guī)格 | |
測定波長 | 380 nm~780 nm |
測定方法 | 與參照樣本的比較測定 |
被檢物N.A. | 0.12(使用10×物鏡時) 0.24(使用20×物鏡時) * 與物鏡的N.A.不同。 |
被檢物W.D. | 10.1 mm(使用10×物鏡時) 3.1 mm(使用20×物鏡時) |
被檢物的曲率半徑 | -1R ~-∞、+1R~∞ |
被檢物的測定范圍 | 約ø60 μm(使用10×物鏡時) 約ø30 μm(使用20×物鏡時) |
測定再現(xiàn)性(2σ) | ±0.1%(380 nm~410 nm測定時) ±0.01%(410 nm~700 nm測定時) |
顯示分辨率 | 1 nm |
測定時間 | 數(shù)秒~十幾秒(因取樣時間而異) |
光源規(guī)格 | 鹵素?zé)簟?2 V 100 W |
載物臺Z方向驅(qū)動范圍 | 85mm |
PC接口 | USB方式 |
裝置重量 | 機身:約20 kg(PC、打印機除外) 光源用電源:約3 kg 控制器盒:約8 kg |
裝置尺寸 | 機身: 300(W)×550(D)×570(H) mm 光源用電源: 150(W)×250(D)×140(H) mm 控制器盒: 220(W)×250(D)×140(H) mm |
電源規(guī)格 | 光源用電源: 100 V(2.8 A)/220 V AC 控制器盒: 100V(0.2A)/220V AC |
使用環(huán)境 | 水平且無振動的地方 溫度: 23±5 °C 濕度: 60%以下、無結(jié)露 |
* 本裝置不保證溯源體系中的精度。
* 可以特別訂做測定波長440 nm~840 nm規(guī)格。
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