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AFM原子力顯微鏡的基本原理是：將一個(gè)對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸，由于針尖原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過在掃描時(shí)控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將對應(yīng)于針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣品的表面方向起伏運(yùn)動(dòng)。利用光學(xué)檢測法或隧道電流檢測法，可測得微懸臂對應(yīng)于掃描各點(diǎn)的位置變化，從而可以獲得樣品表面形貌的信息。

安東帕是一家成熟的開發(fā)商、生產(chǎn)商和經(jīng)銷商，主要經(jīng)營工業(yè)用高精度實(shí)驗(yàn)儀器和加工測量系統(tǒng)，現(xiàn)在推出一款專為工業(yè)用戶設(shè)計(jì)、滿足各種需求的 AFM 產(chǎn)品 Tosca 400。它將先進(jìn)技術(shù)與簡單易用的操作結(jié)合，使得這款 AFM 既適合工業(yè)用戶，也適合科學(xué)學(xué)工作者。自動(dòng)化和工作流導(dǎo)向的控制分析軟件植入到機(jī)器的每個(gè)操作層級，進(jìn)一步提高了效率并簡化AFM 測量操作。
 

現(xiàn)在安東帕提供快速安全更換探針的工具 —— Probemaster 工具。使用這種探針更換工具，原先復(fù)雜的探針操作將成為歷史。只需將探針放置在 Probemaster 標(biāo)記區(qū)域的任何位置，即可將其輕松滑入驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)。無需再使用鑷子來定位細(xì)小的探針。由于有足夠的空間放置探針，所以經(jīng)驗(yàn)不足的用戶也可以輕松操作Probemaster。探針自動(dòng)定位到驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)中，防止對昂貴探針的損壞。