“原子力顯微鏡技術新進展研討會”南京大學站
1986年成立至今，原子力顯微鏡技術已經過30年的發(fā)展。30年間，AFM的功能也從初的表面形貌測量發(fā)展成功能全面的材料物性測試工具。隨著技術的進步，如今第三代原子力顯微鏡能夠實現高分辨率成像，快速掃描的能力，并且更易操作。
牛津儀器原子力顯微鏡將在南京大學和四川大學分別舉行“原子力顯微鏡技術新進展研討會”。兩場研討會將分別就AFM技術進展和納米電學性能表征測試等議題進行分享，我們還為大家現場演示超高分辨率，具有快速掃描能力的CypherS型AFM。歡迎大家參加！
“原子力顯微鏡技術新進展研討會”南京大學站
時間：2016年11月22日
地點：南京大學仙林校區(qū)（仙林大道163號南京大學電子科學與工程系）
| 時間 | 安排 | 報告人 |
| 8：30-9：00 | 注冊 | |
| 9：00-9：30 | AFM技術進展介紹 | 劉長隆 |
| 9：40-10：15 | 二維有機半導體及其異質結的研究 | 張宇涵博士 |
| 10：15-10：30 | 茶歇 | |
| 10：30-11：00 | AFM表征鐵電隧道結研究 | 李晨博士 |
| 11：00-11：30 | 納米電學性能表征測試 | Dr. Jonathan MOFFAT |
| 11：30-11：45 | AFM功能探針介紹 | 劉碩 |
| 13：30-15：15 | AFM高分辨成像模式展示 | AR |
| 15：30-17：00 | AFM功能模式展示（PFM\SKPM） | AR |
關注本網官方微信 隨時閱專業(yè)資訊
下一篇：牛津儀器金屬分析論壇重慶站
