目錄:日立分析儀器(上海)有限公司>>臺式XRF光譜儀>>X射線異物分析儀>> EA8000AX射線分析儀
EA8000A 適用于在鋰離子電池生產(chǎn)中進行快速有效的質(zhì)量控制。
EA8000A集X射線透射成像和X射線熒光分析于一體,可快速檢測和識別損害鋰離子電池(LiB)性能的金屬異物。
創(chuàng)新性地協(xié)同使用X射線透射成像與先進的X射線熒光光譜,使得EA8000A的掃描速度比其他方法快100倍。例如,僅需30分鐘便可在200 x 250mm區(qū)域內(nèi)對尺寸為20µm的金屬顆粒進行檢測和成分分析。
EA8000A可通過X射線投射圖像檢測金屬異物,隨后使用XRF技術(shù)自動掃描這些區(qū)域。
日立采用的成像技術(shù)可確保在整個樣品體積內(nèi)檢測出金屬異物。先進的XRF毛細(xì)管光學(xué)機構(gòu)提供高度聚焦和強X射線光束,可分析電極板及有機薄膜表面下的金屬異物。
EA8000A具有多功能性、高速度和自動化特性,可支持大批量生產(chǎn)。其能快速完成掃描,因此非常適合原材料分析、過程控制和故障分析,確保鋰離子電池生產(chǎn)的各方面都符合高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。
EA8000A | |
高分辨率硅漂移探測器 | 是 |
毛細(xì)管XRF光學(xué)機構(gòu) | 是 |
元素范圍 | Al - U |
操作 | Windows PC |
XY平臺 | 電動自動操作 |
樣品配置 | 固體、粉末、漿液 |
大樣本量 | 250(寬)x200(深)x50(高)mm |
自動數(shù)據(jù)存儲 | 是 |
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)