華測熱激勵去極化電流測量系統(tǒng) 參考價：50000
華測熱激勵去極化電流測量系統(tǒng)，是電介質(zhì)材料在受熱過程中建立極化態(tài)或解除極化態(tài)時所產(chǎn)生的短路電流。試樣的去極化電流隨溫度的變化關(guān)系，即為TSDC譜。通過研究TSD...
功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng) 參考價：35000
功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測試，以及高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測試。與電學(xué)檢測儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫處理、軟件兼容...
華測功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng) 參考價：35000
華測功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測試，以及高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測試。與電學(xué)檢測儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫處理、軟件...
華測儀器HTSC2000系列TSDC熱刺激電流測試儀 參考價：40000
華測儀器HTSC2000系列TSDC熱刺激電流測試儀它能夠在不同測量條件和測量模式下進(jìn)行連續(xù)和高速的測量。
可評估薄膜導(dǎo)電性能的高溫四探針測試儀 參考價：45000
可評估薄膜導(dǎo)電性能的高溫四探針測試儀采用直排四探針法設(shè)計原理測量。主要用于評估半導(dǎo)體薄膜和薄片的導(dǎo)電性能，重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，采用雙屏蔽高頻測試線纜，提高測試參...
高溫快速爐 參考價：8240
高溫快速爐提高了加熱試驗?zāi)芰ΑＭ娮锠t和其他爐相比，紅外線反射爐節(jié)省了升溫時間和保持時間及自然冷卻到室溫所需時間，再試驗中也可改寫設(shè)定溫度值。從各方面講，都節(jié)省...
高真空退火爐 參考價：4537
高真空退火爐可實(shí)現(xiàn)，高反射率的拋物面與高質(zhì)量的加熱源相配置儀器，在高速加熱高速冷卻時，具有良好的溫度分布?？蓪?shí)現(xiàn)寬域均熱區(qū)，高速加熱、高速冷卻，用石英管保護(hù)加熱...
高真空退火爐 參考價：280000
高真空退火爐是通過多年研究開發(fā)了一種可實(shí)現(xiàn)，高反射率的拋物面與高質(zhì)量的加熱源相配置儀器。它能在高速加熱高速冷卻時，具有良好的溫度分布。設(shè)備可組成均熱高速加熱爐，...
高溫快速爐 參考價：60000
目前國內(nèi)高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐，原理為加熱絲或硅碳棒對爐體加熱，加熱與降溫速度慢，效率低下，也無法實(shí)現(xiàn)溫度的測量，加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象，華測儀器通過...
四探針測試儀 參考價：40000
HCTZ-2S北京華測試驗儀器四探針測試儀器是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計...
北京華測四探針測試儀 參考價：50000
HCTZ-2S北京華測四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的，于測試...
華測試驗壓電材料居里溫度測試儀 參考價：9870
華測試驗壓電材料居里溫度測試儀可以分析被測樣品D33常數(shù)隨溫度、頻率、時間變化的曲線。通過軟件將這些變化曲線的溫度譜、時間譜等集成一體并進(jìn)行分析測量并可以直接得...
華測儀器壓電材料居里溫度測試儀 參考價：14500
華測儀器壓電材料居里溫度測試儀可以分析被測樣品D33常數(shù)隨溫度、頻率、時間變化的曲線。通過軟件將這些變化曲線的溫度譜、時間譜等集成一體并進(jìn)行分析測量并可以直接得...
高溫管式快速爐 參考價：19600
目前國內(nèi)高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐，原理為加熱絲或硅碳棒對爐體加熱，加熱與降溫速度慢，效率低下，也無法實(shí)現(xiàn)溫度的測量，加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象，華測儀器通過...
壓電陶瓷居里溫度測試儀 參考價：7800
壓電陶瓷居里溫度測試儀可以分析被測樣品D33常數(shù)隨溫度、頻率、時間變化的曲線。通過軟件將這些變化曲線的溫度譜、時間譜等集成一體并進(jìn)行分析測量并可以直接得出樣品的...
水平垂直燃燒測試儀 參考價：14879
水平垂直燃燒測試儀本試驗設(shè)備符合 ANSI/UL94、IEC60950-1 標(biāo)準(zhǔn)的要求。用于對電器設(shè)備和器具的塑料材 料部件進(jìn)行水平、垂直可燃性試驗。產(chǎn)品箱體外...
華測差示掃描量熱儀 參考價：15970
HCDSC華測差示掃描量熱儀測量的是與材料內(nèi)部熱轉(zhuǎn)變相關(guān)的溫度、熱流的關(guān)系，應(yīng)用范圍非常廣，特別是材料的研發(fā)、性能檢測與質(zhì)量控制。材料的特性：如玻璃化轉(zhuǎn)變溫度、...
華測水平垂直燃燒測試儀 參考價：12000
華測水平垂直燃燒測試儀用于對電器設(shè)備和器具的塑料材 料部件進(jìn)行水平、垂直可燃性試驗。產(chǎn)品箱體外殼為鋼材結(jié)構(gòu)，并配置了透明觀察窗，數(shù)顯 計時器記錄施焰、余焰、余灼...
華測絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng) 參考價：25000
華測絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)應(yīng)用電路板測試可連續(xù)監(jiān)測，高效簡便評估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問題。
熱激勵去極化電流測量系統(tǒng) 參考價：35000
熱激勵去極化電流測量系統(tǒng)是被廣泛應(yīng)用于電力、絕緣、生物分子等領(lǐng)域，用于研究材料性能的一些關(guān)鍵因素，諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等。
絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng) 參考價：25000
面對電子產(chǎn)品越來越小型輕量及高密度封裝，因結(jié)露吸濕等因素造成的絕緣bu良現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出，絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)配之以高溫高濕試驗箱聯(lián)動，可...
鐵電遲豫電流測試儀 參考價：45000
鐵電遲豫電流測試儀主要用來研究電子陶瓷材料的遲豫性能，也就是介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的，即施加電壓階躍后的電流響應(yīng)。
陶瓷多層執(zhí)行器測試儀 參考價：10000
陶瓷多層執(zhí)行器測試儀本設(shè)備專門用于陶瓷多層執(zhí)行器在動態(tài)加載力和靜態(tài)加載力條件下的性能研究，并且可以從室溫到200℃的測試。
熱激發(fā)極化電流測試儀 參考價：10000
熱激發(fā)極化電流測試儀系統(tǒng)除了可以測試材料的鐵電、壓電、熱釋電性能外，還可以用于測試材料的熱激發(fā)極化電流TSDC （Thermally Stimulated De...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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