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簡介：德國nanofilm公司于1991年開發(fā)出了世界上*臺Brewster角顯微鏡(BAM)。近幾年來，nanofilm又相繼推出了不同用途的BAM產(chǎn)品以及相應(yīng)的配套儀器。

簡介：供應(yīng)橢偏儀-美國科學(xué)計算公司(SCI)供應(yīng)薄膜測量儀器-美國科學(xué)計算公司(SCI)供應(yīng)薄膜測試儀器-美國科學(xué)計算公司(SCI)

簡介：激光橢圓偏振測厚儀（ELLIP-EY）適用于高校教學(xué)和工業(yè)薄膜測試為一款普及型的測試儀器。

簡介：專門針對晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測量，能夠測量薄膜厚度及其光學(xué)常數(shù)

簡介：針對太陽能電池應(yīng)用，可測量多晶硅/單晶硅絨面表面單層(二層或多層)減反射膜、和玻璃/有機基底上的薄膜太陽能電池。多層膜和非均勻薄膜的分析也非常出色。針對太陽能電池應(yīng)用的光譜橢偏儀基于*的橢偏光路設(shè)...

簡介：激光系列產(chǎn)品光譜測試儀器光學(xué)精密機械光源光學(xué)影像探測器光學(xué)元件光通信儀器生物分析儀器

簡介：橢偏儀測膜厚的優(yōu)點?1.測量對象廣泛：可測透明膜，多層膜和其他性能不同厚度不同的膜。?2.被測量的薄膜尺寸可以很小。?3.測量速度快。（7-13s檢測時間）?4.光學(xué)測量方法對樣品表面損傷zui小...

簡介：光譜橢偏儀是一種用于探測薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)以及材料微結(jié)構(gòu)的光學(xué)測量設(shè)備。由于與樣品非接觸，對樣品沒有破壞且不需要真空，使得橢偏儀成為一種吸引力的測量設(shè)備。

簡介：ELLIP-SR-Ⅰ型產(chǎn)品是集光機電于一體高精度高穩(wěn)定橢圓偏振光譜儀。從儀器狀態(tài)調(diào)整、參數(shù)設(shè)置、數(shù)據(jù)采集一直到數(shù)據(jù)處理，均通過計算機自動完成，可工作于從紫外至近紅外的寬廣光譜區(qū)，波長連續(xù)可調(diào)，入射...

簡介：橢偏儀SpecELSpecEL-2000-VIS橢偏儀通過測量基底反射的偏振光，進(jìn)而測量薄膜厚度及材料不同波長處的折射率。SpecEL通過PC控制來實現(xiàn)折射率，吸光率及膜厚的測量。