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簡(jiǎn)介：Dektak8臺(tái)階式探針輪廓儀，結(jié)構(gòu)緊湊，可提供很高的重復(fù)性和精度。*的X–Y方向定位系統(tǒng)可移動(dòng)到8x8inch區(qū)域的任何位置。它不僅能測(cè)量臺(tái)階高度和表面紋理，還能測(cè)量金屬蝕刻速率的均勻性、焊點(diǎn)高...

簡(jiǎn)介：Dektak150型是Veeco公司2007年正式推出的型探針式表面輪廓儀(臺(tái)階儀)產(chǎn)品，主要應(yīng)用于薄膜厚度測(cè)量、樣品表面形貌測(cè)量、薄膜應(yīng)力測(cè)量、樣品表面粗糙度/波紋度測(cè)量、以及樣品表面三維形貌測(cè)...

簡(jiǎn)介：集40多年的探針輪廓技術(shù)創(chuàng)新于一身，該系統(tǒng)在行業(yè)內(nèi)的表現(xiàn)*，以重現(xiàn)性*和標(biāo)準(zhǔn)掃描范圍zui大而著稱。它提供各種各樣的配置和附加選項(xiàng)，用于程序化測(cè)量、低探針力表征和細(xì)節(jié)分析

簡(jiǎn)介：對(duì)蝕刻圖形化后的藍(lán)寶石襯底進(jìn)行測(cè)量結(jié)合常規(guī)的臺(tái)階儀和掃描探針顯微鏡技術(shù)

簡(jiǎn)介：核心功能描述：實(shí)現(xiàn)快速弧高及臺(tái)階測(cè)量：綜合放大倍率8.0x—100x，支持偏角觀察功能。可測(cè)弧高臺(tái)階范圍1.0um—20mm（一般弧高的高度不超過(guò)800um）

簡(jiǎn)介：DektakXT臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）布魯克DektakXT臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì)，可以提供的重現(xiàn)性，重現(xiàn)性低于5?。臺(tái)階儀這項(xiàng)性能的提高達(dá)到了過(guò)去四十年Dektak技術(shù)...

簡(jiǎn)介：Single-arch設(shè)計(jì)提供具突破性的掃描穩(wěn)定性

簡(jiǎn)介：ET4000是Kosaka公司推出的全自動(dòng)接觸式微細(xì)形狀測(cè)定儀，具有高精確性、穩(wěn)定性和重復(fù)性，可測(cè)量FPD、晶片、磁盤，和與納米材料相關(guān)物件的表面特性、臺(tái)階高度和粗糙度等。

簡(jiǎn)介：KOSAKET200臺(tái)階儀主要是觸針形狀不同，ET(俗稱Alpha-step)是R2um/60度鉆石制、AFM是蝕刻制，故幾乎無(wú)角度。也因此若純粹膜厚兩種都OK，差異是有些細(xì)微表面ET掉不進(jìn)去，故...

簡(jiǎn)介：NanoMap-D掃描三維表面輪廓儀是用于表面結(jié)構(gòu)測(cè)量和表面形貌分析的一款測(cè)量計(jì)量型設(shè)備既可以用于科學(xué)研究，也可以用于工業(yè)產(chǎn)品的檢測(cè)。1、三維表面結(jié)構(gòu)：粗糙度,波紋度，表面結(jié)構(gòu)，缺陷分析，晶粒分析...