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簡介：InspectS50掃描電鏡采用*的樣品室真空技術(shù)以及FEI的世界*電子光學(xué)和樣品生產(chǎn)量技術(shù)。只要檢驗(yàn)、表征、工藝控制和失效分析至關(guān)重要

簡介：InspectF50掃描電鏡采用*的樣品室真空技術(shù)以及FEI的世界*電子光學(xué)和樣品生產(chǎn)量技術(shù)。只要檢驗(yàn)、表征、工藝控制和失效分析至關(guān)重要

簡介：Quanta?掃描電鏡包括6個(gè)變量的壓力和環(huán)境掃描電子顯微鏡（ESEM?）和兩個(gè)DualBeam?系統(tǒng)，所有這些都可以容納多個(gè)樣品和工業(yè)過程控制實(shí)驗(yàn)室，材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)室和生命科學(xué)實(shí)驗(yàn)室的成像要求。

簡介：Nova?NanoSEM掃描電鏡引入了zui低速度新一代的高靈敏可伸縮SE/BSE探測(cè)器和多功能的SE/BSE過濾功能，使感興趣的信息zui低速度*化。智能掃描模式可用于盡可能避免成像假象。

簡介：Magellan?XHR掃描電鏡高靈敏的表面圖像、以及俯視或從其它角度觀看圖像，分辨率可達(dá)到一納米以下。這款電鏡上的一些重要突破在于它鏡筒上采用了革命性的單色槍技術(shù),它使顯微學(xué)家可*地把高空間分辨...

簡介：Phenom?G2Pure臺(tái)式掃描電鏡適用于傳統(tǒng)大電鏡待測(cè)樣品的快速篩選，也適合于光學(xué)顯微鏡的分辨率無法滿足需求的客戶。

簡介：Phenom?ProX臺(tái)式掃描電鏡適用于傳統(tǒng)大電鏡待測(cè)樣品的快速篩選，也適合于光學(xué)顯微鏡的分辨率無法滿足需求的客戶。

簡介：Phenom?G2Pro臺(tái)式掃描電鏡適用于傳統(tǒng)大電鏡待測(cè)樣品的快速篩選，也適合于光學(xué)顯微鏡的分辨率無法滿足需求的客戶。

簡介：InspectS50掃描電鏡供應(yīng)廣泛用于材料科學(xué)（金屬材料、非金屬材料、鈉米材料）、冶金、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、半導(dǎo)體材料與器件、地質(zhì)勘探、病蟲害的防治、災(zāi)害（火災(zāi)、失效分析）鑒定、刑事偵察、寶石鑒定、工...

簡介：InspectF50掃描電鏡直銷采用*的樣品室真空技術(shù)以及FEI的世界*電子光學(xué)和樣品生產(chǎn)量技術(shù)。只要檢驗(yàn)、表征、工藝控制和失效分析至關(guān)重要，則InspectS50和InspectF50型顯微鏡的...