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- 萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)
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- 扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)機(jī)、彎曲試驗(yàn)機(jī)
- 沖擊試驗(yàn)機(jī)
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- 振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)
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- 附著力測(cè)試儀
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- 柔軟度試驗(yàn)機(jī)
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- 剝離強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)/破裂強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)
- 耐寒試驗(yàn)機(jī)
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- 測(cè)力儀(測(cè)力計(jì))
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- 沖擊試驗(yàn)缺口拉床
- 沖擊試驗(yàn)缺口投影儀
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+環(huán)境試驗(yàn)箱
- 臭氧老化試驗(yàn)箱
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- 步入式試驗(yàn)箱、步入式實(shí)驗(yàn)室
- 氙燈耐氣候試驗(yàn)箱、氙燈老化試驗(yàn)箱
- 低溫箱、低溫試驗(yàn)箱
- 鹽霧試驗(yàn)箱、鹽霧試驗(yàn)機(jī)、鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱
- 高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱
- 高低溫交變?cè)囼?yàn)箱
- 高低溫沖擊試驗(yàn)箱/冷熱沖擊試驗(yàn)箱
- 紫外線耐氣候試驗(yàn)箱
- 高低溫試驗(yàn)箱
- 三綜合試驗(yàn)箱
- 淋雨試驗(yàn)箱/淋雨試驗(yàn)裝置
- 砂塵試驗(yàn)箱
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- 濕熱試驗(yàn)箱
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- 高溫老化試驗(yàn)箱、熱老化試驗(yàn)箱
- 玻璃測(cè)試機(jī)/玻璃試驗(yàn)設(shè)備
- 其它環(huán)境試驗(yàn)箱
- +無(wú)損檢測(cè)/無(wú)損探傷儀器
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- +燃燒測(cè)定儀
- +其它物性測(cè)試儀器及設(shè)備
最新產(chǎn)品
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非接觸式金屬膜厚測(cè)量?jī)x
面議0簡(jiǎn)介：非接觸式金屬膜厚測(cè)量?jī)x昊量光電新推出用于導(dǎo)電薄膜和薄金屬層膜厚測(cè)量的非接觸式金屬膜厚測(cè)量?jī)xEddyCusTFSeries，這款金屬膜厚測(cè)量?jī)x可以非接觸式實(shí)時(shí)測(cè)量，對(duì)導(dǎo)電薄膜的膜厚精確測(cè)量，表征已被...
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激光干涉膜厚測(cè)量?jī)x
面議0簡(jiǎn)介：Xper-IP激光干涉膜厚測(cè)量?jī)xXper-IP是基于公司*的光譜干涉技術(shù)的一款激光干涉膜厚儀，是一種非接觸式、無(wú)損的、且快速的光學(xué)薄膜厚度測(cè)量設(shè)備
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在線薄膜厚度實(shí)時(shí)測(cè)量?jī)x-MPROBE 70
面議0簡(jiǎn)介：在線薄膜厚度實(shí)時(shí)測(cè)量?jī)x-MPROBE70在線薄膜厚度實(shí)時(shí)測(cè)量?jī)x-MPROBE70是一種高性能厚度測(cè)量系統(tǒng)
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半導(dǎo)體/薄膜無(wú)損檢測(cè)儀
面議0簡(jiǎn)介：薄膜無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)，半導(dǎo)體無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)l產(chǎn)品特點(diǎn)系統(tǒng)使用獲得zuanli的光聲技術(shù)設(shè)計(jì)無(wú)損測(cè)量系統(tǒng)
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薄膜厚度均勻度測(cè)量系統(tǒng)-MPROBE 60（mapping測(cè)量）
面議0簡(jiǎn)介：薄膜厚度均勻度測(cè)量系統(tǒng)-MPROBE60（精確定位測(cè)量）MProbe60是一站式系統(tǒng)，專(zhuān)為研發(fā)中心和小型制造而設(shè)計(jì)
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原位薄膜厚度測(cè)量?jī)x-MPROBE 50 INSITU
面議0簡(jiǎn)介：MPROBE50INSITU–實(shí)時(shí)薄膜厚度測(cè)量?jī)x原位薄膜厚度測(cè)量?jī)x-MPROBE50INSITU用于測(cè)量薄膜厚度和n原位薄膜厚度測(cè)量?jī)x-MPROBE50INSITU優(yōu)勢(shì)：1
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膜厚測(cè)量?jī)x（厚度范圍1nm~1.8mm）
面議0簡(jiǎn)介：美國(guó)Semisonsoft膜厚測(cè)量?jī)xMProbe-MAKINGTHINFILMSTHICKNESSMEASUREMENTEASY美國(guó)Semisonsoft公司MProbe系列薄膜測(cè)厚儀測(cè)量厚度可以...
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微小區(qū)域薄膜厚度測(cè)量?jī)x-MPROBE 40 MSP
面議0簡(jiǎn)介：微小區(qū)域薄膜厚度測(cè)量?jī)x-MPROBE40MSPMProbe40測(cè)量薄膜厚度和折射率單擊鼠標(biāo)在小地方
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手持式膜厚測(cè)量?jī)x-MProbe 20 HC（彎曲表面）
面議0簡(jiǎn)介：手持式膜厚測(cè)量?jī)x-MProbe20HC（彎曲表面）手持式膜厚測(cè)量?jī)x-MProbe20HC（彎曲表面）基于MProbe20平臺(tái)可以輕松測(cè)量曲面和大型零件的薄膜厚度，MProbe20具有專(zhuān)為單層和雙層...
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Mprobe 20-臺(tái)式膜厚測(cè)量?jī)x
面議0簡(jiǎn)介：Mprobe20單點(diǎn)薄膜測(cè)量?jī)xMProbe20是一款桌面式單點(diǎn)薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)，只需點(diǎn)擊鼠標(biāo)就可進(jìn)行薄膜厚度和折射率測(cè)量，測(cè)量厚度范圍1nm-1mm
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